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  • AP-CJ系列led冷熱沖擊試驗機
    AP-CJ系列led冷熱沖擊試驗機

    led冷熱沖擊(ji)試(shi)驗機基于(yu)快速溫(wen)度變(bian)化技(ji)術。它通(tong)常由熱溫(wen)區(qu)、冷溫(wen)區(qu)和測(ce)(ce)試(shi)區(qu)三部分組成,具有蓄熱蓄冷沖擊(ji)效(xiao)果。在測(ce)(ce)試(shi)過程中,待測(ce)(ce)LED產(chan)品首先(xian)在熱溫(wen)區(qu)或(huo)冷溫(wen)區(qu)達(da)到穩態溫(wen)度,然(ran)后迅(xun)速移動到測(ce)(ce)試(shi)區(qu)以暴(bao)露(lu)于(yu)相反的(de)溫(wen)度。

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ系列訪問量:2840
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  • AP-CJLED冷熱沖擊試驗機/試驗箱
    AP-CJLED冷熱沖擊試驗機/試驗箱

    LED冷熱沖擊試驗(yan)機是一種用(yong)(yong)于測試電子產品、材料或組件在快速溫(wen)度變化(hua)下(xia)的穩定性(xing)和(he)可靠性(xing)的設備(bei)。該試驗(yan)機使用(yong)(yong)高低溫(wen)箱和(he)液氮或液氣(qi)作為冷熱介質,通過控制溫(wen)度、時間和(he)循(xun)環次數來(lai)模擬(ni)實際(ji)應(ying)用(yong)(yong)場(chang)景中的溫(wen)度變化(hua)。

    更新時間:2024-10-31型號:AP-CJ訪問量:2298
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  • AP-CJled冷熱沖擊試驗機
    AP-CJled冷熱沖擊試驗機

    LED冷熱沖擊(ji)試(shi)驗機是一種(zhong)通過加熱和制冷系統(tong)以及(ji)精確的溫(wen)(wen)濕度(du)控制裝置,快速改變(bian)測試(shi)區溫(wen)(wen)度(du),從而在極短(duan)時(shi)間(jian)內(nei)完成(cheng)對產品從低溫(wen)(wen)到高溫(wen)(wen)或從高溫(wen)(wen)到低溫(wen)(wen)循環沖擊(ji)的試(shi)驗設備。這種(zhong)設備能(neng)夠模擬LED產品在實際(ji)應用中可能(neng)遇到的各種(zhong)溫(wen)(wen)度(du)變(bian)化,以評估其在不同溫(wen)(wen)度(du)環境下(xia)的適應性(xing)和性(xing)能(neng)穩定性(xing)。

    更新時間:2024-10-30型號:AP-CJ訪問量:2496
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  • AP-CJled冷熱沖擊試驗機價格
    AP-CJled冷熱沖擊試驗機價格

    led冷熱沖擊試(shi)驗機不需(xu)要(yao)使用液態氣體(LN2或LCO2)輔助(zhu)降溫,待測(ce)物靜(jing)止測(ce)試(shi)方式是當前電子部(bu)品測(ce)試(shi)、研究、以及(ji)半(ban)導體生產(chan)線大(da)量適用,愛佩為(wei)客戶(hu)提供長期可靠的測(ce)試(shi)工具。

    更新時間:2024-10-30型號:AP-CJ訪問量:3651
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  • led冷熱沖擊試驗箱現貨
    led冷熱沖擊試驗箱現貨

    led冷(leng)(leng)熱沖(chong)擊試驗箱現貨是提供給led產(chan)品、led配件、led顯(xian)示(shi)屏、led燈(deng)、led照(zhao)明、led顯(xian)示(shi)屏控(kong)制器、lled燈(deng)泡、led大(da)功率燈(deng)珠、led電子顯(xian)示(shi)屏等與led相關的(de)產(chan)品進行環(huan)境(jing)模(mo)擬試驗,通過冷(leng)(leng)熱循(xun)環(huan)沖(chong)擊檢測(ce)來判(pan)斷產(chan)品的(de)性能是否仍然能夠符(fu)合預定(ding)的(de)標準要(yao)求,以便led產(chan)品改(gai)進、設計、鑒(jian)定(ding)及出(chu)廠(chang)檢驗

    更新時間:2024-10-30型號:訪問量:2496
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  • AP-CJled冷熱沖擊試驗機設備
    AP-CJled冷熱沖擊試驗機設備

    LED冷熱沖擊(ji)試驗機在LED產(chan)品的(de)質量(liang)控(kong)制(zhi)和研發過程中扮演著重要的(de)角色,通過模擬溫度環境(jing),評(ping)估LED產(chan)品的(de)性能和可靠(kao)性,為(wei)產(chan)品改進和質量(liang)控(kong)制(zhi)提供(gong)了關鍵支持。

    更新時間:2024-10-30型號:AP-CJ訪問量:2715
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  • 3AP-CJled冷熱沖擊試驗機
    3AP-CJled冷熱沖擊試驗機

    LED冷(leng)熱(re)沖(chong)擊試(shi)(shi)驗機主要(yao)用于測(ce)試(shi)(shi)LED產品(pin)在不(bu)同溫(wen)(wen)度(du)環境下的工作狀態和性能表現。試(shi)(shi)驗機通過加熱(re)和制冷(leng)系(xi)統,以及精確的溫(wen)(wen)濕度(du)控(kong)制裝(zhuang)置(zhi),快速改變測(ce)試(shi)(shi)區(qu)的溫(wen)(wen)度(du),從而在極(ji)短時間內完成(cheng)對(dui)產品(pin)從低溫(wen)(wen)到(dao)高(gao)溫(wen)(wen)或從高(gao)溫(wen)(wen)到(dao)低溫(wen)(wen)的循環沖(chong)擊。

    更新時間:2024-10-29型號:3AP-CJ訪問量:6475
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  • AP-CJ半導體冷熱沖擊試驗箱
    AP-CJ半導體冷熱沖擊試驗箱

    半(ban)導體冷熱(re)沖擊(ji)試(shi)(shi)驗(yan)箱適(shi)用于工(gong)業產品(pin)高(gao)、低溫(wen)的(de)可(ke)靠性試(shi)(shi)驗(yan)。對電(dian)(dian)子電(dian)(dian)工(gong)、汽車摩(mo)托、高(gao)等院(yuan)校、科研單位等相關產品(pin)的(de)零部件及材料在高(gao)、低溫(wen)(交變)循環(huan)變化(hua)的(de)情況下,檢驗(yan)其各項性能指標。產品(pin)具有較寬(kuan)的(de)溫(wen)度(du)控制范圍,其性能指標均達到國家標準GB10592-89高(gao)低溫(wen)濕熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)箱技術條件,適(shi)用于按GB2423.1、GB2423.2《電(dian)(dian)工(gong)電(dian)(dian)子產品(pin)環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan) 試(shi)(shi)驗(yan)A:低溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)方法

    更新時間:2024-10-29型號:AP-CJ訪問量:2435
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