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微電腦溫沖試驗(yan)箱適用于(yu)(yu)電子(zi)(zi)電器零組件(jian)、通訊組件(jian)、自動(dong)化(hua)零部件(jian)、汽(qi)車配件(jian)、化(hua)學材料、金(jin)屬、塑(su)膠等行業(ye)、航天、國(guo)防工(gong)業(ye)、BGA、兵工(gong)業(ye)、PCB基扳、電子(zi)(zi)芯片(pian)IC、半導體(ti)陶磁及(ji)高分子(zi)(zi)材料之物對高、低(di)溫的(de)(de)反復(fu)抵(di)拉力及(ji)產(chan)品處于(yu)(yu)熱脹冷(leng)縮的(de)(de)物理(li)(li)環境產(chan)出的(de)(de)化(hua)學變化(hua)或物理(li)(li)傷害，可確認各種產(chan)品的(de)(de)品質,從(cong)精(jing)密的(de)(de)IC到重機械(xie)的(de)(de)組件(jian)，無一不需要它,目前此設備是工(gong)業(ye)產(chan)業(ye)共(gong)認的(de)(de)理(li)(li)想(xiang)測試工(gong)具。

模(mo)擬環境溫度沖(chong)擊測試設(she)(she)備可(ke)在預(yu)約開機(ji)(ji)時(shi)間運轉中自動提前預(yu)冷(leng)(leng)、預(yu)熱(re)、待機(ji)(ji)功(gong)(gong)能。結構設(she)(she)計為(wei)蓄熱(re)槽(cao)、測試槽(cao)、蓄冷(leng)(leng)槽(cao)三部分，被(bei)測試物(wu)品靜止(zhi)置放于測試室內(nei)，可(ke)選擇2區或3區之(zhi)測試功(gong)(gong)能。可(ke)獨立設(she)(she)定(ding)高(gao)(gao)溫、低溫及冷(leng)(leng)熱(re)沖(chong)擊三種不同條件之(zhi)功(gong)(gong)能，執(zhi)行冷(leng)(leng)熱(re)沖(chong)擊條件時(shi),具有高(gao)(gao)低溫試驗機(ji)(ji)的(de)功(gong)(gong)能。

冷(leng)熱沖擊箱(xiang)是(shi)一種用于測(ce)試(shi)產品在溫度變(bian)化(hua)環(huan)境(jing)下(xia)的(de)(de)穩定性和可(ke)靠性的(de)(de)試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)。該設(she)備(bei)可(ke)以模擬高溫、低溫和急速(su)溫度變(bian)化(hua)的(de)(de)條件，從(cong)而(er)評估產品在這(zhe)些環(huan)境(jing)下(xia)的(de)(de)耐(nai)受(shou)能力(li)。

溫(wen)沖(chong)試(shi)驗設(she)備(bei)標準試(shi)驗目(mu)的是(shi)為了仿真不同電子構件，在實(shi)際使用環境(jing)中(zhong)遭(zao)遇的溫(wen)度(du)條件，改變環境(jing)溫(wen)差范(fan)圍及急促升降溫(wen)度(du)改變，可以提供更為嚴格測(ce)試(shi)環境(jing)，縮短測(ce)試(shi)時間(jian)，降低測(ce)試(shi)費用，但是(shi)必須(xu)要注意可能對材料測(ce)試(shi)造成(cheng)額外(wai)的影響，產生非使用狀態的破壞試(shi)驗。

元(yuan)(yuan)器(qi)件(jian)熱沖擊用(yong)于測(ce)試電子(zi)產品，電子(zi)，電器(qi)，電子(zi)產品，電子(zi)元(yuan)(yuan)器(qi)件(jian)，數碼產品，手機，電腦(nao)，太陽能組件(jian)等(deng)產品及(ji)零部件(jian)在瞬間下經*溫及(ji)極(ji)低溫的(de)(de)連續環境下忍受的(de)(de)程度(du)，得(de)以在Z短時間內檢測(ce)試樣因(yin)熱脹(zhang)冷(leng)縮所引起(qi)的(de)(de)化(hua)學變化(hua)或物理傷害。