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線(xian)路板冷熱沖擊(ji)箱(xiang)(xiang)|兩(liang)箱(xiang)(xiang)式冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)執行和(he)滿(man)足(zu)的試(shi)驗(yan)(yan)方法有(you)：SJ/T10187-91Y73系列(lie)溫(wen)(wen)度變化試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)——一箱(xiang)(xiang)式；SJ/T10186-91Y73系列(lie)溫(wen)(wen)度變化試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)——二箱(xiang)(xiang)式；GB/T2423.22-1989溫(wen)(wen)度變化試(shi)驗(yan)(yan)；GB/T2423.2-1989高溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)方法；GB/T2423.1-1989低溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)方法；GJB360.7-87溫(wen)(wen)度沖擊(ji)試(shi)驗(yan)(yan)；GJB150.5-86溫(wen)(wen)度沖擊(ji)試(shi)驗(yan)(yan)；IEC

冷熱沖(chong)(chong)擊(ji)實驗(yan)機是(shi)一種(zhong)用于測試復合材(cai)料(liao)及材(cai)料(liao)結(jie)構(gou)在(zai)瞬間經(jing)歷高溫和極(ji)低溫連續環境下的(de)性(xing)能(neng)的(de)設(she)備。通過(guo)冷熱沖(chong)(chong)擊(ji)實驗(yan)，可(ke)以考核和確(que)定電(dian)(dian)工、電(dian)(dian)子、汽(qi)車電(dian)(dian)器(qi)、材(cai)料(liao)等(deng)產品在(zai)進行(xing)高低溫試驗(yan)的(de)溫度環境沖(chong)(chong)擊(ji)變化(hua)后的(de)參數及性(xing)能(neng)，以及使用的(de)適應性(xing)。這

高(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)沖擊(ji)(ji)箱老化(hua)箱/冷熱(re)沖擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan)(yan)箱廠家(jia)執行和(he)滿足的試(shi)驗(yan)(yan)方(fang)法(fa)有：SJ/T10187-91Y73系(xi)列溫(wen)(wen)(wen)度變化(hua)試(shi)驗(yan)(yan)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系(xi)列溫(wen)(wen)(wen)度變化(hua)試(shi)驗(yan)(yan)箱——二箱式；GB/T2423.22-1989溫(wen)(wen)(wen)度變化(hua)試(shi)驗(yan)(yan)；GB/T2423.2-1989高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)方(fang)法(fa)；GB/T2423.1-1989低溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)方(fang)法(fa)；GJB360.7-87溫(wen)(wen)(wen)度沖擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan)(yan)；GJB150.5-86溫(wen)(wen)(wen)度沖擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan)(yan)；IEC

測溫(wen)(wen)(wen)沖(chong)(chong)擊普測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀器/冷熱沖(chong)(chong)擊試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)儀器廠家執行和滿足的試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)有：SJ/T10187-91Y73系(xi)列溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)——一箱(xiang)式；SJ/T10186-91Y73系(xi)列溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)——二箱(xiang)式；GB/T2423.22-1989溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)化試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)；GB/T2423.2-1989高溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)；GB/T2423.1-1989低溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)；GJB360.7-87溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)沖(chong)(chong)擊試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)；GJB150.5-86溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)沖(chong)(chong)擊試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)；IEC

冷(leng)熱沖擊(ji)測(ce)試(shi)箱(xiang)(冷(leng)熱沖擊(ji)試(shi)驗機)能夠提(ti)供快速的(de)(de)溫(wen)度(du)變(bian)化，使得測(ce)試(shi)能夠在較(jiao)短的(de)(de)時(shi)間內完成。它提(ti)供了精確(que)的(de)(de)溫(wen)度(du)控制和穩定性，以確(que)保(bao)測(ce)試(shi)結(jie)果的(de)(de)準確(que)性和可(ke)靠性。

線路板冷(leng)熱(re)沖擊(ji)箱|環境試驗(yan)箱廠(chang)家用途： 廣(guang)泛用于電子電器零元(yuan)件(jian)、自(zi)動化零部(bu)件(jian)、通(tong)訊元(yuan)件(jian)、汽車配(pei)件(jian)、金屬(shu)、化學材料(liao)、塑膠(jiao)等行(xing)業(ye)，國防工業(ye)、航天、兵工業(ye)、BGA、PCB基扳(ban)、電子芯片(pian)IC、半導體陶(tao)磁及高分(fen)子材料(liao)之物理(li)牲(sheng)變化,測試其材料(liao)對(dui)高、低溫的反復抵(di)拉力(li)及產(chan)品(pin)于熱(re)脹冷(leng)縮產(chan)出的化學變化或物理(li)傷害，可確認(ren)產(chan)品(pin)的質量,從(cong)精密的IC到重機械的元(yuan)件(jian)，可作(zuo)為其產(chan)品(pin)改進(jin)的依據或參(can)考。

電路(lu)板高(gao)低溫(wen)冷熱沖擊(ji)機|電路(lu)板高(gao)低溫(wen)沖擊(ji)箱用途： 廣泛(fan)用于(yu)電子電器(qi)零元件(jian)(jian)、自(zi)動化(hua)零部件(jian)(jian)、通訊元件(jian)(jian)、汽車配件(jian)(jian)、金(jin)屬、化(hua)學材料、塑膠(jiao)等行業(ye)，國防工(gong)業(ye)、航天、兵工(gong)業(ye)、BGA、PCB基(ji)扳(ban)、電子芯片(pian)IC、半導體陶磁及(ji)高(gao)分(fen)子材料之物(wu)理牲變化(hua),測試(shi)其材料對高(gao)、低溫(wen)的反復抵拉(la)力及(ji)產品于(yu)熱脹冷縮(suo)產出的化(hua)學變化(hua)或物(wu)理傷害，可(ke)確認產品的質量,從精密的IC到重機械的元件(jian)(jian)，可(ke)作為其產品改進的依(yi)據或參考(kao)。

玻璃(li)冷熱(re)沖(chong)(chong)擊(ji)試驗(yan)箱|超低溫沖(chong)(chong)擊(ji)試驗(yan)箱用(yong)途： 廣泛用(yong)于電(dian)子(zi)電(dian)器零(ling)元件(jian)(jian)(jian)、自動化(hua)(hua)(hua)(hua)零(ling)部件(jian)(jian)(jian)、通訊(xun)元件(jian)(jian)(jian)、汽車配件(jian)(jian)(jian)、金屬、化(hua)(hua)(hua)(hua)學(xue)材(cai)(cai)料(liao)、塑膠(jiao)等行業(ye)(ye)，國防工業(ye)(ye)、航天、兵(bing)工業(ye)(ye)、BGA、PCB基(ji)扳(ban)、電(dian)子(zi)芯片(pian)IC、半導體陶(tao)磁(ci)及高(gao)分(fen)子(zi)材(cai)(cai)料(liao)之(zhi)物理牲變化(hua)(hua)(hua)(hua),測(ce)試其(qi)(qi)材(cai)(cai)料(liao)對高(gao)、低溫的(de)(de)反復抵拉力及產(chan)品(pin)于熱(re)脹冷縮(suo)產(chan)出(chu)的(de)(de)化(hua)(hua)(hua)(hua)學(xue)變化(hua)(hua)(hua)(hua)或物理傷(shang)害，可(ke)確認產(chan)品(pin)的(de)(de)質量(liang),從(cong)精密的(de)(de)IC到重機(ji)械的(de)(de)元件(jian)(jian)(jian)，可(ke)作(zuo)為(wei)其(qi)(qi)產(chan)品(pin)改進(jin)的(de)(de)依據或參考。