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廣(guang)東冷熱沖擊(ji)箱(xiang)分為三(san)箱(xiang)式和(he)兩箱(xiang)式是金屬、塑料(liao)、橡膠、電子等(deng)材(cai)料(liao)行業(ye)*的(de)測(ce)試設備，用于測(ce)試材(cai)料(liao)結構或復合材(cai)料(liao)，在瞬間(jian)下經*溫及極低(di)溫的(de)連續環境下忍受的(de)程度，得以在短時間(jian)內檢測(ce)試樣因(yin)熱脹冷縮所引起(qi)的(de)化學(xue)變化或物理傷害。

蓄(xu)冷(leng)沖(chong)擊試驗箱特別(bie)適用(yong)于半導體(ti)電子(zi)器件(jian)做溫度破壞測試，主要(yao)測試材(cai)料結構在(zai)瞬(shun)間下經*溫及極低溫的(de)連續(xu)沖(chong)擊環境下所(suo)能忍(ren)受的(de)程度，得以在(zai)短時間內檢(jian)測試樣因(yin)熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所(suo)引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷害。

汕頭溫(wen)度(du)沖擊試(shi)(shi)驗箱三(san)箱設(she)備(bei)區(qu)分(fen)為：低溫(wen)區(qu)、測(ce)(ce)高溫(wen)區(qu)、試(shi)(shi)區(qu)三(san)部分(fen)，測(ce)(ce)試(shi)(shi)產品置于測(ce)(ce)試(shi)(shi)區(qu)，沖擊時(shi)高溫(wen)區(qu)或低溫(wen)區(qu)的溫(wen)度(du)沖入(ru)測(ce)(ce)試(shi)(shi)區(qu)進行(xing)沖擊, 測(ce)(ce)試(shi)(shi)產品為靜態(tai)式。

廣東愛佩(pei)直接生(sheng)產廠商冷(leng)熱沖擊試驗測試標準特別適(shi)用于半導體電(dian)子(zi)器件做溫(wen)度破壞測試，主(zhu)要測試材料結(jie)構在(zai)瞬間下經*溫(wen)及(ji)極(ji)低溫(wen)的(de)連續沖擊環(huan)境(jing)下所能(neng)忍受的(de)程度，得以在(zai)短(duan)時間內檢測試樣(yang)因熱脹冷(leng)縮所引起的(de)化學變(bian)化或物理傷(shang)害。

供應廠(chang)商直銷冷熱(re)沖(chong)擊(ji)(ji)試驗(yan)箱價格符合標準：GB/T2423.1-2008試驗(yan)A低(di)(di)溫(wen)(wen)試驗(yan)方法(fa)(fa)(fa)；GB/T2423.2-2008試驗(yan)B高(gao)溫(wen)(wen)試驗(yan)方法(fa)(fa)(fa)；GB-T10592-2008高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)箱技(ji)術(shu)條(tiao)件；GJB150.3-1986設備環(huan)境(jing)試驗(yan)方法(fa)(fa)(fa)：高(gao)溫(wen)(wen)試驗(yan)；GJB360A-96方法(fa)(fa)(fa)107溫(wen)(wen)度沖(chong)擊(ji)(ji)試驗(yan)的要求(qiu)。

溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)沖擊試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱標準適用(yong)于(yu)考核產品(pin)（整機）、元器件、零部件等經受(shou)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)急劇變(bian)(bian)化的能力，該溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)沖擊試(shi)驗(yan)(yan)(yan)能夠了解試(shi)驗(yan)(yan)(yan)樣品(pin)一次(ci)或連續多次(ci)因溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)(bian)化而(er)帶來的影響。影響溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)(bian)化試(shi)驗(yan)(yan)(yan)的主要(yao)參數為(wei)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變(bian)(bian)化范(fan)圍的高溫(wen)(wen)(wen)和低(di)溫(wen)(wen)(wen)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)值、樣品(pin)在高溫(wen)(wen)(wen)和低(di)溫(wen)(wen)(wen)下的保持時(shi)間、以(yi)及試(shi)驗(yan)(yan)(yan)的循環次(ci)數等因素。

冷(leng)熱沖(chong)擊測(ce)試箱由(you)至少兩個獨(du)立的測(ce)試室組成(cheng)，其(qi)中一個用于(yu)低溫測(ce)試，另一個用于(yu)高溫測(ce)試。測(ce)試物品通過將其(qi)放置在(zai)測(ce)試室中進行(xing)測(ce)試，然后通過控制系統實現快速切換(huan)和(he)調節(jie)溫度。

沖擊試驗箱價(jia)格(ge)技術參數: 1.內箱尺寸：W360mm*H350mm*D400mm 2.外箱尺寸：以實(shi)際尺寸為標(biao)準。 3.高溫(wen)槽預(yu)熱溫(wen)度范圍：+60℃～200℃； 4.升溫(wen)時間：+60℃～200℃≤30min；