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  • AP-CJ獨立升降溫沖擊試驗箱
    AP-CJ獨立升降溫沖擊試驗箱

    獨立升降溫(wen)沖擊試(shi)(shi)驗箱適(shi)用于電子元氣件的安全性(xing)能測(ce)試(shi)(shi)提供可(ke)靠(kao)性(xing)試(shi)(shi)驗、產(chan)品(pin)篩選試(shi)(shi)驗等,同(tong)時通過此裝(zhuang)備試(shi)(shi)驗,可(ke)提高產(chan)品(pin)的可(ke)靠(kao)性(xing)和進(jin)行產(chan)品(pin)的質量控制(zhi)。

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ訪問量:1362
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  • AP-CJ加速度沖擊試驗機
    AP-CJ加速度沖擊試驗機

    加速(su)度(du)沖擊(ji)試(shi)驗機(ji)區(qu)(qu)(qu)分(fen)(fen)為高溫區(qu)(qu)(qu)、低溫區(qu)(qu)(qu)、測(ce)(ce)試(shi)區(qu)(qu)(qu)三部(bu)分(fen)(fen), 各區(qu)(qu)(qu)之箱(xiang)體采(cai)*之斷熱(re)結(jie)構。沖擊(ji)方式應用風(feng)路(lu)切換方式將(jiang)溫度(du)導入測(ce)(ce)試(shi)區(qu)(qu)(qu),做(zuo)冷熱(re)沖擊(ji)測(ce)(ce)試(shi)。高溫沖擊(ji)或(huo)低溫沖擊(ji)時,Z大時間可達9999分(fen)(fen)鐘,Z大循環周(zhou)期(qi)可達9999次(ci)。系統可作自動循環沖擊(ji)或(huo)手(shou)動選擇(ze)性沖擊(ji)并可設定二區(qu)(qu)(qu)或(huo)三區(qu)(qu)(qu)沖擊(ji)及冷沖熱(re)沖啟始。

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ訪問量:2005
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  • AP-CJ自動循環沖擊試驗箱
    AP-CJ自動循環沖擊試驗箱

    自(zi)動循環沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱區分(fen)為高溫(wen)區、低溫(wen)區、測試區三部分(fen), 各(ge)區之箱體采*之斷熱結(jie)構(gou)。沖(chong)擊(ji)方式(shi)應(ying)用(yong)風路切換(huan)方式(shi)將溫(wen)度導入測試區,做冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)測試。高溫(wen)沖(chong)擊(ji)或(huo)低溫(wen)沖(chong)擊(ji)時,Z大時間可(ke)達9999分(fen)鐘,Z大循環周期可(ke)達9999次。系統可(ke)作(zuo)自(zi)動循環沖(chong)擊(ji)或(huo)手動選(xuan)擇(ze)性沖(chong)擊(ji)并可(ke)設定(ding)二區或(huo)三區沖(chong)擊(ji)及(ji)冷(leng)沖(chong)熱沖(chong)啟始。冷(leng)卻采二元冷(leng)凍系統,降(jiang)溫(wen)效(xiao)果快速,冷(leng)卻方式(shi)為風冷(leng)式(shi)或(huo)水冷(leng)式(shi)兩種(zhong)。采用(yong)彩色中英(ying)文LCD觸控(kong)式(shi)圖控(kong)操(cao)作(zuo)介面,操(cao)作(zuo)

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ訪問量:1352
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  • AP-CJ上海沖擊試驗機
    AP-CJ上海沖擊試驗機

    上(shang)海沖(chong)擊試(shi)驗(yan)(yan)機根(gen)據試(shi)驗(yan)(yan)需求及測試(shi)標準(zhun)(zhun)分為三箱式和兩箱式,區別在(zai)于試(shi)驗(yan)(yan)方式和內部結構不同,適用于電子元氣(qi)件的安全(quan)性能測試(shi)提供(gong)可靠(kao)性試(shi)驗(yan)(yan)、產(chan)品(pin)(pin)篩(shai)選試(shi)驗(yan)(yan)等,同時通過此裝備(bei)試(shi)驗(yan)(yan),可提高產(chan)品(pin)(pin)的可靠(kao)性和進行產(chan)品(pin)(pin)的質量控制,產(chan)品(pin)(pin)符(fu)合(he)標準(zhun)(zhun)為:GB/T2423.1-2008試(shi)驗(yan)(yan)A 、GB/T2423.2-2008試(shi)驗(yan)(yan)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法(fa)107溫度沖(chong)擊試(shi)

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ訪問量:1462
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  • AP-CJ元器件熱沖擊試驗箱
    AP-CJ元器件熱沖擊試驗箱

    元器件熱沖擊試驗箱適用(yong)(yong)于(yu)質量控(kong)制的實驗室,確定電工電子產品(pin)在貯存(cun)、運(yun)輸和(he)使(shi)用(yong)(yong)期間可(ke)能遇到的溫度迅速變(bian)化(hua)(hua)的條件下的適應性,又(you)可(ke)滿足生產過程中篩選商用(yong)(yong)產品(pin)。適用(yong)(yong)的對(dui)象包括金屬,塑料(liao),橡膠(jiao),電子、LED、LCD、通訊組件、汽(qi)車(che)配件、化(hua)(hua)學材(cai)料(liao)、航(hang)天(tian)、國(guo)防工業、電子芯(xin)片IC、半導(dao)體陶瓷(ci)及高分子材(cai)料(liao)等行業,可(ke)作(zuo)為其產品(pin)改進(jin)的依據或參考。

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ訪問量:1165
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  • AP-CJ三箱式溫沖試驗機
    AP-CJ三箱式溫沖試驗機

    三箱式溫(wen)沖(chong)試驗機(ji)用途(tu):主要用于(yu)測(ce)(ce)試產品在高溫(wen)、低溫(wen)瞬(shun)間(jian)變化(hua)(hua)的(de)(de)氣候環境(jing)下的(de)(de)貯(zhu)存、運輸和使(shi)用時的(de)(de)性(xing)(xing)能。廣泛應(ying)用于(yu)電工(gong)、電子(zi)產品、元器件、零部(bu)件、航(hang)天航(hang)空、金(jin)屬等(deng)材料(liao),進(jin)行高溫(wen)到低溫(wen)再到高溫(wen)的(de)(de)反復瞬(shun)間(jian)變化(hua)(hua)試驗,通(tong)過試驗,可以了(le)解被測(ce)(ce)物(wu)在該環境(jing)下的(de)(de)物(wu)理、機(ji)械等(deng)性(xing)(xing)能的(de)(de)變化(hua)(hua),可用于(yu)判定產品的(de)(de)性(xing)(xing)能是否(fou)能夠達到設計(ji)要求等(deng),從(cong)而對產品質(zhi)量控(kong)制、產品的(de)(de)改(gai)進(jin)等(deng)提供有益的(de)(de)數據。

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ訪問量:2012
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  • AP-CJ冷熱循環試驗機
    AP-CJ冷熱循環試驗機

    冷熱循(xun)環試驗(yan)機用于工(gong)業產(chan)品(pin)高、低(di)溫(wen)(wen)的(de)(de)可靠(kao)性(xing)試驗(yan)。對電(dian)子電(dian)工(gong)、汽車摩托、航(hang)空航(hang)天、船舶(bo)兵(bing)器、高等院校、科研單位等相關產(chan)品(pin)的(de)(de)零部件及材料在高、低(di)溫(wen)(wen)(交變)循(xun)環變化(hua)的(de)(de)情(qing)況下,檢驗(yan)其(qi)各項性(xing)能指標。

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ訪問量:1395
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  • AP-CJ觸控式循環沖擊測試箱
    AP-CJ觸控式循環沖擊測試箱

    觸控式循(xun)環(huan)沖(chong)擊測(ce)試箱專注環(huan)境試驗設備十(shi)幾(ji)年,憑借公司*的(de)技(ji)術、*的(de)工藝、規(gui)范(fan)的(de)制(zhi)作、嚴格的(de)管理、完善的(de)服(fu)務,愛佩科技(ji)品牌的(de)沖(chong)擊試驗箱榮獲眾多國家單位及高(gao)科企業客戶(hu)的(de)贊揚與信任。

    更新時間:2024-11-01型號:AP-CJ訪問量:1144
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