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3分(fen)(fen)(fen)鐘(zhong)恢復沖擊(ji)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)是(shi)愛佩科(ke)技(ji)試(shi)(shi)驗(yan)設備有限公(gong)司的(de)產品之一(yi)，主要(yao)用于高(gao)低溫(wen)沖擊(ji)環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)，回復時(shi)間在3分(fen)(fen)(fen)鐘(zhong)以(yi)內(nei)可滿足，高(gao)于國標規定的(de)5分(fen)(fen)(fen)鐘(zhong)，是(shi)一(yi)款(kuan)高(gao)性(xing)能的(de)冷熱沖擊(ji)測試(shi)(shi)箱(xiang)。分(fen)(fen)(fen)為高(gao)溫(wen)區、低溫(wen)區、測試(shi)(shi)區三部分(fen)(fen)(fen)，樣品置(zhi)于測試(shi)(shi)區內(nei)，沖擊(ji)時(shi)高(gao)溫(wen)或低溫(wen)區的(de)溫(wen)度通過高(gao)壓(ya)氣缸啟(qi)動進(jin)入測試(shi)(shi)區內(nei)進(jin)行溫(wen)度沖擊(ji)，從而達到溫(wen)度劇烈變化的(de)目的(de)。

LED三(san)箱式(shi)(shi)冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)箱廠家箱體結構(gou)試(shi)(shi)驗箱采(cai)用整體式(shi)(shi)組(zu)合結構(gou)形式(shi)(shi)，既試(shi)(shi)驗箱由(you)位(wei)于(yu)(yu)上(shang)(shang)部的(de)(de)高溫(wen)試(shi)(shi)驗箱，位(wei)于(yu)(yu)下(xia)部的(de)(de)低溫(wen)試(shi)(shi)驗箱體、位(wei)于(yu)(yu)后(hou)(hou)部的(de)(de)制冷(leng)機(ji)(ji)(ji)組(zu)柜和位(wei)于(yu)(yu)左側(ce)后(hou)(hou)板(ban)上(shang)(shang)的(de)(de)電(dian)器控制柜（系統）所(suo)組(zu)成。此方(fang)式(shi)(shi)箱體占地(di)面(mian)積(ji)小、結構(gou)緊湊、外形美觀，制冷(leng)機(ji)(ji)(ji)組(zu)置于(yu)(yu)獨立的(de)(de)機(ji)(ji)(ji)組(zu)箱體內，以減少制冷(leng)機(ji)(ji)(ji)組(zu)運行時(shi)的(de)(de)震(zhen)動、噪聲(sheng)對(dui)試(shi)(shi)驗箱的(de)(de)影響，同時(shi)便于(yu)(yu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)的(de)(de)安裝和維(wei)修，電(dian)器控制面(mian)板(ban)置于(yu)(yu)試(shi)(shi)驗箱的(de)(de)左側(ce)板(ban)上(shang)(shang)以便于(yu)(yu)運行操作(zuo)。

寧波三箱式(shi)沖擊(ji)試驗箱/高低溫沖擊(ji)箱報告用途： 適用的對象包括電子電器(qi)零(ling)組(zu)件、自動化零(ling)部件、通訊組(zu)件、汽車配件、金(jin)屬(shu)、化學材(cai)料、塑膠等行業及國(guo)防工(gong)業、 航(hang)天、兵工(gong)業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC 半導體陶(tao)磁及高分子材(cai)料之物理(li)牲變化,可作為其產(chan)品(pin)改進的依(yi)據(ju)或參考(kao)。

冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)實驗機是(shi)一個復雜的測試系統，具(ju)有(you)(you)多種功能和特性(xing)。它的使用可以幫助科學家和工程(cheng)師了(le)解產(chan)品(pin)在不同溫(wen)度環(huan)境下的性(xing)能表現，從(cong)而為(wei)產(chan)品(pin)的改進和優(you)化提供有(you)(you)力支持。

三箱冷熱沖(chong)擊(ji)箱，又稱三箱式冷熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱，是(shi)一種先進(jin)的(de)環境模(mo)擬(ni)設備(bei)，用(yong)于(yu)測試(shi)材料、結構(gou)或(huo)復合材料在短(duan)時間(jian)內(nei)經(jing)歷高溫與低溫連續環境變(bian)化下(xia)的(de)耐受能(neng)力。

三箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)冷(leng)熱溫(wen)(wen)度(du)(du)沖(chong)(chong)擊(ji)試驗(yan)(yan)機是給(gei)工業產品(pin)、電子產品(pin)做(zuo)高低(di)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)沖(chong)(chong)擊(ji)實驗(yan)(yan)用(yong)的(de)所以(yi)還(huan)可(ke)以(yi)叫溫(wen)(wen)度(du)(du)沖(chong)(chong)擊(ji)實驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)或者(zhe)高低(di)溫(wen)(wen)沖(chong)(chong)擊(ji)實驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)。溫(wen)(wen)度(du)(du)沖(chong)(chong)擊(ji)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)工作原理(li)是由(you)測(ce)試室(shi)、高溫(wen)(wen)室(shi)和(he)低(di)溫(wen)(wen)室(shi)組成。試品(pin)放(fang)置(zhi)于測(ce)試室(shi)，高溫(wen)(wen)室(shi)和(he)低(di)溫(wen)(wen)室(shi)內(nei)不可(ke)放(fang)置(zhi)試品(pin)只是儲存不同的(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)用(yong)來做(zuo)產品(pin)沖(chong)(chong)擊(ji)時(shi)用(yong)。高溫(wen)(wen)室(shi)內(nei)的(de)空氣預熱到一定的(de)高溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)；低(di)溫(wen)(wen)室(shi)內(nei)的(de)空氣預冷(leng)到一定的(de)低(di)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)。

溫(wen)度(du)沖擊(ji)(ji)試(shi)驗箱用(yong)來測(ce)試(shi)工(gong)業成品或半成品材(cai)料(liao)的(de)復合結構(gou)在(zai)高溫(wen)與低溫(wen)快(kuai)速沖擊(ji)(ji)反應下所能承受的(de)環境程(cheng)度(du)。適用(yong)于電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)工(gong)業,軍(jun)工(gong)工(gong)業、兵(bing)器工(gong)業、自(zi)動化零組(zu)件、汽(qi)車(che)配件、儀器儀表零組(zu)件、五金塑(su)膠、化工(gong)業、BGA、PCB基扳(ban)、觸摸屏行(xing)業電(dian)子(zi)芯片IC、半導體LED光電(dian)及相關產品等行(xing)業在(zai)周(zhou)圍大氣溫(wen)度(du)急(ji)劇(ju)變化條件下的(de)適應性沖擊(ji)(ji)測(ce)試(shi)實驗。

半導(dao)體冷熱沖(chong)擊試(shi)驗機主(zhu)要用于測試(shi)零部件、材(cai)料結構或復合材(cai)料，在(zai)(zai)瞬(shun)間下(xia)經*溫及極低溫的(de)(de)連(lian)續(xu)環境(jing)下(xia)所(suo)能(neng)忍(ren)受的(de)(de)程(cheng)度(du)，藉(jie)以在(zai)(zai)Z短(duan)時間內試(shi)驗其熱脹(zhang)冷縮所(suo)引起的(de)(de)化學變化或物理傷害。該產(chan)(chan)品(pin)即適用于質量控制的(de)(de)實驗室(shi)，確定(ding)電(dian)工電(dian)子產(chan)(chan)品(pin)在(zai)(zai)貯存、運輸和使用期間可(ke)能(neng)遇到的(de)(de)溫度(du)迅速變化的(de)(de)條件下(xia)的(de)(de)適應性，又(you)可(ke)滿足(zu)生產(chan)(chan)過程(cheng)中篩選商用產(chan)(chan)品(pin)