半導體高低溫冷熱沖擊實驗箱也叫(jiao)冷熱沖擊試驗(yan)箱,所以東(dong)莞高低(di)溫沖擊試驗箱也可稱為東(dong)莞冷熱沖擊試驗箱,是指在東(dong)莞(guan)生(sheng)產或者在東(dong)莞(guan)使用的沖(chong)擊(ji)設備。本設備是光電、LED、金屬、照明、塑料(liao)(liao)、橡膠、通訊、電子等(deng)產(chan)品或材料(liao)(liao)行業需(xu)要的(de)溫沖設(she)備，用于測試材料(liao)(liao)結(jie)構或復合材料(liao)(liao)，在瞬間(jian)下經高熱(re)溫及極低冷(leng)溫的(de)連續(xu)環境下所(suo)能忍(ren)受的(de)程度，得以在最短時間(jian)內檢(jian)測試樣因熱(re)脹冷(leng)縮所(suo)引(yin)起的(de)化(hua)學變(bian)化(hua)或物理傷害。滿足的(de)試驗(yan)方法(fa)分別是：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗。

半導體高低溫冷熱沖擊實驗箱附屬功能(neng):

預先設定試驗(yan)開始(shi)時間，試驗(yan)箱自動(dong)開始(shi)起(qi)動(dong)并準備開始(shi)試驗(yan)。

進氣(qi)口在環境溫度曝露時吸進外面的空氣(qi)。

排氣(qi)口從機械室(shi)和試驗區排出(chu)熱氣(qi)定(ding)時預定(ding)功能。

曝(pu)露(lu)時間縮短(duan)功能。

試驗(yan)區的(de)下風溫度(du)達(da)到(dao)曝露溫度(du)后轉換(huan)到(dao)下一個曝露的(de)功能。

前(qian)處理/后(hou)處理功能。

在循環試驗開始前(qian)或結(jie)束(shu)后(hou)，試樣(yang)被曝露(lu)在高溫環境(jing)中（熱處理）維持一定時間(jian)。

干燥運轉功能。

試驗(yan)結件下運轉一定的時間。

不同溫段(duan)沖擊：由多級蒸(zheng)發(fa)器結構(gou)相應切(qie)斷，控制蒸(zheng)發(fa)面積與制冷量膨(peng)脹閥匹配，使用制冷系(xi)統輸(shu)出合理(li)減少加熱器中和的輸(shu)出量，達(da)到恒定節能；另有獨立的換氣(qi)閥門，在排氣(qi)（常溫恢復）時(shi)動作引入環境空氣(qi)。

主(zhu)控制(zhi)器采用進口“OYO9226S"雙回路高精度液(ye)晶顯示觸(chu)摸按鍵溫(wen)度控(kong)制器。該控(kong)制器采用(yong)液(ye)晶顯示觸(chu)摸屏(ping)，可顯示設定參數、試驗曲線、運(yun)行(xing)時間、加熱(re)器工作狀(zhuang)態，PID參數自(zi)整定功能。控制程序的編(bian)制采用人(ren)機對話方式，僅需(xu)設定溫度，就(jiu)可實現制冷機自(zi)動運(yun)行(xing)功能。控制系(xi)統具備完(wan)善(shan)的檢測裝(zhuang)置能自(zi)動進(jin)行(xing)詳細的故障顯示(shi)。報警，配置USB通(tong)訊接口(kou)及運行軟件。設定精度：溫(wen)度：0.1℃ 時(shi)間：Is用(yong)戶程序容(rong)量：10×99段。運行方式：程序運行，恒(heng)定運行。獨立超(chao)溫(wen)保(bao)護(hu)儀表。設(she)備工(gong)作時間累計計時器。低(di)溫(wen)區、高溫(wen)區轉(zhuan)換時間小于(yu)等于(yu)10秒。 溫度恢(hui)復時間小于等于5分鐘。

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