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線路板快速高低溫沖擊試驗箱

簡要(yao)描述(shu):線(xian)路板快(kuai)速(su)高低(di)溫沖(chong)擊(ji)(ji)試驗箱與(yu)低(di)溫沖(chong)擊(ji)(ji)試驗設(she)備(bei)的(de)相(xiang)關功能(neng)可以(yi)溶(rong)合在一起(qi)做成一臺(tai)設(she)備(bei),它就是(shi)高低(di)溫沖(chong)擊(ji)(ji)試驗設(she)備(bei)。即是(shi)一臺(tai)可以(yi)單獨(du)做高溫沖(chong)擊(ji)(ji)試驗+單獨(du)做低(di)溫沖(chong)擊(ji)(ji)試驗+高低(di)溫交變沖(chong)擊(ji)(ji)試驗的(de)設(she)備(bei)。

  • 產(chan)品型號AP-CJ
  • 廠商性質生產廠家
  • 更(geng)新(xin)時間2024-11-06
  • 訪  問  量614

詳細介紹

品牌愛佩科技/A-PKJ價格區間5萬-10萬
產地類別國產應用領域電子,交通,綜合

線路板快速高低溫沖擊試驗箱與低溫沖(chong)(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)設備的相關(guan)功(gong)能(neng)可以溶合在一(yi)(yi)起做(zuo)成一(yi)(yi)臺設備,它就是(shi)(shi)高低溫沖(chong)(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)設備。即是(shi)(shi)一(yi)(yi)臺可以單(dan)獨(du)做(zuo)高溫沖(chong)(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)+單獨(du)做低溫(wen)沖(chong)擊試(shi)驗+高低溫交變(bian)沖擊試驗的設備(bei)。

線路板快速高低溫沖擊試驗箱特(te)點:

 它們(men)方便于(yu)在溫度瞬間變化對(dui)試品(pin)的性能(neng)和品(pin)質作出評價。愛佩科技生(sheng)產的具有以下幾(ji)個(ge)基本特點:

A、試(shi)驗系統結(jie)構設計*合(he)理(li),外殼采用(yong)進口激(ji)光加工(gong)而(er)成,平整光(guang)滑(hua),制造(zao)工藝(yi)規范,外觀美觀、大方,給人帶來美感(gan),維護保養方便(bian)。

B、零部(bu)件的配(pei)套(tao)與組裝(zhuang)匹配(pei)性(xing)好,主要功(gong)能(neng)元(yuan)器件均采用具有*水平的原(yuan)裝(zhuang)國外(wai)進口件,提高了(le)產品的安全(quan)性(xing)和可靠(kao)性(xing),能(neng)保證用戶長時間、高頻率(lv)的使用要求。

C、設備(bei)正常運(yun)行所(suo)需的附帶條(tiao)件已有配備(bei),買(mai)方(fang)只需提供動力(li)電力(li)、試驗消耗品和滿足要求(qiu)的工作環境(jing)即(ji)可(ke)。

高(gao)溫(wen)沖擊試驗設備|低溫沖(chong)擊試驗設備技術指標

工作室(shi)尺寸:350×400×350mm);500×400×400mm);600×500×500mm);700×600×600mm)(W×H×D

外形尺(chi)寸:以選擇每款(kuan)工作室(shi)尺(chi)寸的實際外形尺(chi)寸為標準。

最高(gao)溫沖(chong)擊范圍:  150

低溫沖擊范圍:  -65

高低溫沖擊范圍有(you):-40℃~+150;-55℃~+150;-65℃~+150;

高溫室儲存最高溫度范圍: 60℃~+200;

低(di)溫室儲存低(di)溫度范(fan)圍: 60℃~-75;

高溫室升溫時間:+20℃~+200℃約(yue)60分鐘

低(di)溫室降溫時(shi)間:+20℃~-75℃約(yue)100分鐘

溫度恢復時間: 3~5min(最快轉(zhuan)換時間在10秒鐘內可完成)

溫度(du)波動度(du):±0.5

溫度偏(pian)差(cha):  ≤±2

高溫沖擊(ji)試驗設備|低溫沖擊試驗設備安全裝置:

配有:超溫(wen)保護;壓縮機超壓;過載;過流保護(hu);風機過載保護相(xiang)序保護,漏電保(bao)護;

電源:AC380V50Hz

高(gao)溫沖擊試驗設備|低溫沖(chong)擊試驗設備主要用于電子電器零組件塑膠等行(xing)業,國(guo)防工業、兵工業、航天(tian)、BGAPCB基扳(ban)、、自動化(hua)零(ling)部件(jian)、通訊(xun)組件(jian)、汽車(che)配件(jian)、金屬、化(hua)學材料(liao)、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化進行試驗,可確認(ren)產品在環(huan)境中突變的(de)性能。用來(lai)測試(shi)材料結構或(huo)復合(he)材料,在瞬間下經高溫及低(di)溫的(de)連(lian)續環(huan)境下所能忍受的(de)程度,藉(jie)以在最短時間內試(shi)驗(yan)其熱脹冷縮所引起的(de)化(hua)學變化(hua)或(huo)物(wu)理變化(hua)。


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