簡(jian)要描述:高低(di)溫(wen)(wen)度老化實(shi)驗室(shi)是指溫(wen)(wen)濕(shi)度分布均勻度比較(jiao)密(mi),如普(pu)通(tong)的(de)恒(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)濕(shi)室(shi)相(xiang)差(cha)5~10度誤(wu)差(cha),而愛佩科(ke)技組裝的(de)恒(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)濕(shi)實(shi)驗室(shi)誤(wu)差(cha)分布在正負(fu)2度以內,波動度在正負(fu)0.5度以內,溫(wen)(wen)度解析精(jing)度:0.01℃,濕(shi)度解析精(jing)度:0.1%R.H,溫(wen)(wen)度控(kong)制(zhi)精(jing)度 :±0.2℃,濕(shi)度控(kong)制(zhi)精(jing)度:±2%R.H。
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品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 價格區間 | 5萬-10萬 |
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 建材,電子,綜合 |
高低溫度老化實驗室是指溫(wen)濕度(du)分布均勻(yun)度(du)比較密,如普(pu)通(tong)的恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕室相(xiang)差5~10度誤(wu)差,而愛(ai)佩科(ke)技組裝的(de)恒(heng)溫恒(heng)濕實驗室誤(wu)差分布在(zai)正負2度以內,波動度在正負0.5度以內,溫(wen)度(du)(du)解析精度(du)(du):0.01℃,濕度(du)解析(xi)精度(du):0.1%R.H,溫度控(kong)制精(jing)度 :±0.2℃,濕度(du)控制(zhi)精(jing)度(du):±2%R.H。
它們適用于航(hang)空航(hang)天產品、信息電子儀器儀表、電工、電子產品、材料(liao)、各種工業產品或(huo)電子元氣件在(zai)高低溫恒溫或(huo)濕(shi)熱恒濕(shi)的(de)環境下、檢驗(yan)其(qi)各性能項指標。高精密(mi)(mi)恒溫恒濕(shi)試驗(yan)室(shi)|高精密(mi)(mi)恒溫恒濕(shi)實驗(yan)室(shi)的(de)控(kong)制部分設計在(zai)設備的(de)右(you)側(ce),分布(bu)有溫控(kong)儀、控(kong)制開關等(deng),操作(zuo)方便(bian),簡單,易于維(wei)護。 本試驗室選用(yong)優質(zhi)材料(liao),使用(yong)國內目前*的(de)加工設(she)備(bei)加工成型。
高低溫度老化實驗室保護系統:
1、整(zheng)體設備超(chao)溫(wen);
2、風(feng)機過熱保護
3、整體設(she)備欠相/逆相(xiang);
4、制(zhi)冷系統過載(zai);
5、制(zhi)冷機(ji)組超壓(ya);
6、加濕系統缺水保護;
7、整體(ti)設備(bei)定時;
8、其它還(huan)有漏(lou)電(dian)、運行指示,故障報警后(hou)自動(dong)停機等保(bao)護(hu)。
高精密恒(heng)溫恒(heng)濕試驗(yan)(yan)室|高精密恒(heng)溫恒(heng)濕實驗(yan)(yan)室使用(yong)條件:
1、安裝(zhuang)場地
地面平整,通風良好
設備周圍無強烈(lie)振動
設備(bei)周圍無強電磁場影(ying)響
設備(bei)周圍(wei)無(wu)易燃、易爆、腐蝕性物(wu)質和粉塵(chen)
設備(bei)周圍留有適當的使(shi)用及維護空間,
2、供電條(tiao)件(jian)
電源要求:AC380V±10% 50±0.5Hz 三相五線制
預裝功(gong)率(lv):總功(gong)率(lv)+2.0KW
要求(qiu)用戶在安裝現場為設備配置相應容量(liang)的空(kong)氣或動力(li)開(kai)關,并且此(ci)開(kai)關必(bi)須是獨立(li)供本(ben)設備使用(建議電(dian)源開(kai)關容量(liang):32A)
3、環境條件
環境溫度:5℃~+30℃(24小(xiao)時(shi)內平(ping)均溫(wen)度≤30℃)
環(huan)境(jing)濕度:≤85%RH
4、供水條件(僅(jin)限濕熱型及需要用水設備)
采用純凈水(shui)、蒸餾水(shui)、去(qu)離子水(shui)。電阻(zu)率≥500Ω.m
5、其它注意事項(xiang)
高精密(mi)恒(heng)溫恒(heng)濕試驗(yan)室(shi)|高精密(mi)恒(heng)溫恒(heng)濕實驗(yan)室(shi)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)過程中(zhong)打(da)開(kai)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)的(de)門(men),會造成(cheng)箱(xiang)內的(de)溫、濕度波動;在試(shi)驗(yan)(yan)(yan)過程中(zhong)如果多次打(da)開(kai)門(men)或長時間(jian)敞開(kai)門(men)或試(shi)驗(yan)(yan)(yan)樣品散(san)發濕汽,可能會造成(cheng)制冷系統換熱器結冰而無法正常工作。
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