簡要描(miao)述:電子行業(ye)高低(di)(di)溫(wen)(wen)沖擊(ji)(ji)(ji)試(shi)驗設(she)備與低(di)(di)溫(wen)(wen)沖擊(ji)(ji)(ji)試(shi)驗設(she)備的(de)相關(guan)功能可以溶合在一(yi)起(qi)做(zuo)成一(yi)臺設(she)備,它(ta)就是(shi)高低(di)(di)溫(wen)(wen)沖擊(ji)(ji)(ji)試(shi)驗設(she)備。即(ji)是(shi)一(yi)臺可以單(dan)獨(du)做(zuo)高溫(wen)(wen)沖擊(ji)(ji)(ji)試(shi)驗+單(dan)獨(du)做(zuo)低(di)(di)溫(wen)(wen)沖擊(ji)(ji)(ji)試(shi)驗+高低(di)(di)溫(wen)(wen)交(jiao)變沖擊(ji)(ji)(ji)試(shi)驗的(de)設(she)備。
產品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 價格區間 | 5萬-10萬 |
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 建材,電子,綜合 |
尺寸 | 400*500*400 |
電子行業高低溫沖擊試驗設備與低溫(wen)沖(chong)擊(ji)試驗設(she)(she)備(bei)的相關功能可以溶合在一起做(zuo)成一臺設(she)(she)備(bei),它就是高低溫(wen)沖(chong)擊(ji)試驗設(she)(she)備(bei)。即是一臺可以單獨做(zuo)高溫(wen)沖(chong)擊(ji)試驗+單(dan)獨做低(di)溫沖擊試驗+高低溫交變沖(chong)擊試驗(yan)的設備(bei)。
高溫沖擊試驗設(she)備|低溫沖擊試驗設備特點:
它們方便(bian)于在溫(wen)度瞬間變(bian)化對(dui)試品的(de)性能和品質作出(chu)評(ping)價。愛佩科(ke)技(ji)生產的(de)具有以(yi)下幾個基本特點:
A、試驗系統結構(gou)設計*合理(li),外殼采(cai)用進口(kou)激光加工而成,平整光滑,制(zhi)造工藝規(gui)范,外觀(guan)美觀(guan)、大方,給人帶來(lai)美感(gan),維護保(bao)養(yang)方(fang)便。
B、零部件的配(pei)套與組(zu)裝匹(pi)配(pei)性好(hao),主要功(gong)能元器件均(jun)采用具有*水平的原裝國外進口件,提高了產品的安全性和可靠性,能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。
C、設備正常運行(xing)所需(xu)的(de)附帶條(tiao)件已有配(pei)備,買方只(zhi)需(xu)提供(gong)動力(li)電力(li)、試驗(yan)消耗品和(he)滿(man)足要求的(de)工作(zuo)環境即可。
高(gao)溫沖擊(ji)試驗設備|低溫沖(chong)擊試驗(yan)設備技術指標
工作(zuo)室尺寸:350×400×350(mm);500×400×400(mm);600×500×500(mm);700×600×600(mm)(W×H×D)
外形尺(chi)寸:以選擇每款工作室尺(chi)寸的(de)實際外形尺(chi)寸為(wei)標準(zhun)。
最高溫(wen)沖擊范圍(wei): 150℃
低溫沖擊范圍: -65℃
高低溫沖擊范圍有(you):-40℃~+150℃;-55℃~+150℃;-65℃~+150℃;
高溫室(shi)儲(chu)存(cun)最高溫度(du)范圍(wei): 60℃~+200℃;
低溫室儲存低溫度范圍: 60℃~-75℃;
高(gao)溫室(shi)升(sheng)溫時間:+20℃~+200℃約(yue)60分鐘
低溫室降(jiang)溫時間:+20℃~-75℃約100分鐘
溫(wen)度恢(hui)復時(shi)間: 3~5min(最(zui)快轉換(huan)時(shi)間在10秒(miao)鐘內可完成)
溫度波動(dong)度:±0.5℃
溫(wen)度偏差: ≤±2℃
電子行業高低溫沖擊試驗設備安全裝置(zhi):
配有:超溫(wen)保護;壓(ya)縮機超壓(ya);過載;過流保護;風機過載(zai)保護相(xiang)序保護,漏電保護;
電源(yuan):AC380V50Hz
高(gao)溫沖擊試驗(yan)設(she)備|低溫沖擊試驗(yan)設備主(zhu)要用于電子電器(qi)零(ling)組(zu)件塑膠等(deng)行業(ye),國防工(gong)(gong)業(ye)、兵工(gong)(gong)業(ye)、航天、BGA、PCB基扳、、自動(dong)化(hua)零部件(jian)、通(tong)訊組件(jian)、汽車配件(jian)、金屬、化(hua)學材(cai)料、電子芯片IC、半導(dao)體陶磁(ci)及高分子材料之物理牲變化(hua)進行試驗(yan),可確(que)認(ren)產品(pin)在環境中突變(bian)的(de)性能(neng)。用來測(ce)試材料結構(gou)或復合(he)材料,在瞬(shun)間下經(jing)高溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,藉以在最短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理變化。
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