小型風冷式高低溫沖擊試驗箱

簡要描述：小型風冷(leng)式高(gao)低溫(wen)沖(chong)(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)是(shi)主要做沖(chong)(chong)擊(ji)試(shi)驗的，就(jiu)是(shi)一個箱(xiang)子里面(mian)有兩個區域，一個給(gei)預(yu)冷(leng)一個給(gei)預(yu)熱(re)，等到測試(shi)得時(shi)間(jian)就(jiu)把預(yu)冷(leng)好(hao)溫(wen)度或預(yu)熱(re)區的溫(wen)度放出來，他(ta)的是(shi)功能高(gao)溫(wen)轉至低溫(wen)之間(jian)可以在很快時(shi)間(jian)內沖(chong)(chong)擊(ji)完成試(shi)驗。

產(chan)品型號AP-CJ
廠商性質生產廠家
更(geng)新時間2024-11-04
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冷熱沖擊試驗機

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詳細介紹

品牌	愛佩科技/A-PKJ	價格區間	5萬-10萬
產地類別	國產	應用領域	醫療衛生,環保,石油,建材,電子

小(xiao)型(xing)風冷式(shi)高低溫沖(chong)擊試驗(yan)箱適(shi)用的(de)行業及產(chan)(chan)品有光(guang)電、LED、顯(xian)示(shi)器、顯(xian)示(shi)屏連接器，PCB連接器，FPC，電感(gan)器，電子元(yuan)器件(jian)，數碼產(chan)(chan)品，太陽(yang)能(neng)組(zu)(zu)件(jian)，光(guang)伏(fu)組(zu)(zu)件(jian)，光(guang)纖，LCD，PCB，FPC，微電子，電機，汽(qi)車燈(deng)產(chan)(chan)品及零部(bu)件(jian)等大型(xing)產(chan)(chan)品或者大型(xing)零部(bu)件(jian)。從很低到很高的(de)溫度(du)包括中間的(de)任意溫度(du)均(jun)可(ke)隨意設定恒溫或者沖(chong)擊試驗(yan)。

制冷低溫區	溫度暴露范圍	0℃/-65℃
	預熱溫度下限	-75℃
	溫度波動范圍	≤±0.5℃
	溫度降溫時間	-75℃≤60min
加熱高溫區	溫度暴露范圍	60℃~150℃
	預熱溫度上限	200℃
	溫度波動范圍	≤±0.5℃
	溫度上升時間	室溫(wen)200℃≥45min
性能指標	溫度測試范圍可選	A:-40℃～150℃ B:-40℃～150℃C:-65℃～150℃
	溫度均勻動	高(gao)溫室(shi)(shi)及低溫室(shi)(shi)均≤±2℃
	樣品區承重	30kg	30kg	30kg
溫度運行控制系統	主要控制器	//中國臺(tai)灣(可(ke)選擇）進口LED數(shu)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦集成(cheng)控制器
	精度范圍	設(she)定浮動度：溫度±0.2℃，指示(shi)精度：溫度±0.1℃，分辨率：0.01℃
	制冷系統	進口半封(feng)閉水冷(leng)式壓縮機組或原裝“泰(tai)康”/全封(feng)閉風冷(leng)壓縮制冷(leng)機組
	循環系統	耐溫(wen)低噪音空調(diao)型電機(ji).多葉式離心風輪
溫度轉換時間	從(cong)制冷低溫區(qu)到(dao)加(jia)熱高(gao)(gao)溫區(qu)或(huo)從(cong)加(jia)熱高(gao)(gao)溫區(qu)到(dao)制冷低溫區(qu)≤10S
溫度恢復時間	≤5min(恢(hui)復時間與暴(bao)露溫差(cha)、冷(leng)卻水(shui)溫、恒溫時間、樣品重量有關(guan))

本設備滿足：
GB/T2423.1-2008 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗A 低溫；
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫；
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件；
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件；
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件；
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法總則；
GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境(jing)試驗設備檢驗方法溫度試驗設備。

其中風冷意指自然冷卻的意思，一般適用于小功率的產品，如果試驗箱使用的環境溫度較低或長期保持在5-25℃，并且有抽風裝置，才能保證設備在舒適的環境下工作，延長使用壽命。

用途：

小型風冷式(shi)高(gao)低溫(wen)沖擊試驗(yan)箱用(yong)于(yu)電子(zi)電器零組(zu)件、自動化(hua)(hua)零部件、通訊組(zu)件、汽車配件、金屬、塑膠等行(xing)業，國防工業、航天、兵工業、電子(zi)芯(xin)片(pian)IC、半導體(ti)陶瓷及高(gao)分子(zi)材料(liao)之物理(li)性變化(hua)(hua),測(ce)試其材料(liao)對高(gao)、低溫(wen)的反復抵拉力及產(chan)(chan)品(pin)于(yu)熱脹冷縮產(chan)(chan)出的化(hua)(hua)學(xue)變化(hua)(hua)或物理(li)傷害，可確認產(chan)(chan)品(pin)的品(pin)質(zhi)，從(cong)精密的IC到重機(ji)械的組(zu)件，無一不需要它(ta)的理(li)想測(ce)試工具(ju)。