芯片高低溫測試儀

簡要描述：芯片高低溫測試儀技術參數：
1、溫度范圍：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-70℃~150℃
2、濕度范圍：20~98％ RH（請參考愛佩提供的標準行業溫濕度分布范圍圖設定使用）
3、波(bo)動/均勻度：≤±0.5℃ /±2℃

產品型(xing)號AP-GD
廠(chang)商性(xing)質生產廠家
更新時間2024-11-04
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高低溫試驗室

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詳細介紹

品牌	愛佩科技/A-PKJ	價格區間	1萬-2萬
產地類別	國產	應用領域	電子,印刷包裝

芯片高低溫測試儀技術參數：
1、溫度范圍：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-70℃~150℃
2、濕度范圍：20~98％ RH（請參考愛佩提供的標準行業溫濕度分布范圍圖設定使用）
3、波動/均勻度：≤±0.5℃ /±2℃
4、溫度偏差：+2％、-3％RH
5、升溫時間：-20℃~150℃約35min -40℃~150℃約45min -70℃~150℃約55min
6、降溫時間：25℃~0℃約30min；25℃~20℃約40min；25℃~40℃約60min；25℃~70℃約90min
特點：
1、全新完美的造型設計，外觀高質感水準；
2、玻璃視窗配高亮度熒光燈，讓使用者隨時可觀察試驗箱內的狀況；
3、采用全毛細管，自動負載容量調整系統技術；
4、利用多翼式送風機強力送風循環，避免任何死角，使室內溫濕度分布均勻；
5、低噪音設計，可連接電腦；
6、可循環編程控制。
芯片高低溫測試儀設備滿足標準：
1. GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術條件；
2.GB/T10586-1989 濕熱試驗箱技術條件；
3.GB/T10592-1989 高低溫試驗箱技術條件；
4.GB2423.1-89 低溫試驗 Aa，Ab ；
5.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗 Ca；
6.GJB150.9-8 濕熱試驗；
7.GB2423.34-86、MIL-STD883C 方法 1004.2 溫濕度組合循環試驗；
8.IEC68-2-2 試驗 B 高(gao)低溫(wen)交變等；

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