風冷恒溫恒濕試驗箱和水冷規格參數:

型號(hao)可選(xuan)：AP-HX-80/100/150/225/408/800/1000（ABCD）

內箱尺寸可選(xuan)(mm)寬*高*深 W*H*D ：400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm

溫度(du)范(fan)圍可(ke)選(xuan):A：0℃～150℃/B：-20℃～150℃/；C：-40℃～150℃/；D：-70℃～150℃/（可(ke)任意調節）

濕度(du)范圍:20%~98%RH（行業標(biao)準型）

升降溫速率：

RT<-----&gt;150℃ 約(yue)35分(fen)鐘（非(fei)線性空載，約(yue)3.0℃/分(fen)鐘）

RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線(xian)性空(kong)載，約1.0℃/分鐘）

解析精度： 0.01℃

控制精度：≤±0.5℃

均勻度：≦2.0℃

電源(yuan)功率(lv)：AC1￠3W 220V 50/60HZ或AC3￠5W380V 50/60HZ，功率(lv)電流視(shi)型號規格(ge)而定。

風冷恒溫恒濕試驗箱和水冷的控制系統：

一：具有(you)多種報警(jing)功(gong)能，故(gu)障發生同(tong)時，可通過熒幕故(gu)障顯(xian)示，消除故(gu)障；

二：人機對話式(shi)觸摸屏輸(shu)入系統，操(cao)作(zuo)簡單易(yi)學(xue)，功(gong)能強大，并(bing)可于(yu)LCD畫面上了解程序設定之曲線(xian)及(ji)監測過程；

三：PV曲線(xian)/組(zu)曲線(xian)：實(shi)時表(biao)示溫、濕度PV,SV曲線(xian),表(biao)示歷(li)史儲存的曲線(xian),表(biao)示組(zu)曲線(xian)及(ji)進(jin)行狀態(tai)；  

四：可設定(ding)程序120組(zu)，1200段，循(xun)環次數可達999次，每(mei)段時間zui大設定(ding)99小時59分(fen)；  

五：提供USB通(tong)訊接(jie)口(kou)(kou)可(ke)(ke)(ke)備份/歷(li)史(shi)曲(qu)線(xian)/歷(li)史(shi)數據,使用便捷(jie)；還(huan)可(ke)(ke)(ke)選配RS485接(jie)口(kou)(kou)，RS232通(tong)信接(jie)口(kou)(kou)，可(ke)(ke)(ke)通(tong)過PC隨(sui)意(yi)控(kong)制和監視(shi)。   

六(liu)：具有程(cheng)序修正、清除(chu)、預約、啟動、停電、記(ji)憶、按鍵鎖定等(deng)功(gong)能；

七(qi)：畫面保(bao)護器(qi)功(gong)能,程式運行時(shi)可以設定操作條(tiao)件,一個段(duan)次的(de)運行時(shi)間(jian)（530小(xiao)時(shi)59分）,每段(duan)可以設定待機開關，定值zui大999999小(xiao)時(shi)；  

使用條件:

1、安裝(zhuang)場地(di)

地面平(ping)整，通(tong)風(feng)良好

設備周圍(wei)無強(qiang)烈振(zhen)動

設備(bei)周圍(wei)無強電磁(ci)場影響(xiang)

設備周(zhou)圍無易(yi)燃、易(yi)爆、腐蝕性物質和(he)粉塵(chen)

設備周圍(wei)留(liu)有適當的使用及維護(hu)空(kong)間，

2、供(gong)電條件

電源要求：AC380V±10%  50±0.5Hz &nbsp;三相五(wu)線制

預裝功率：總功率 2.0KW

要求(qiu)用(yong)戶在安裝現場為設(she)備(bei)配(pei)置相應容(rong)量的(de)空氣或動力(li)開關，并(bing)且此開關必須是獨立供(gong)本設(she)備(bei)使用(yong)（建議電(dian)源(yuan)開關容(rong)量：32A）

3、環境條件

環境溫(wen)度：5℃～＋30℃（24小時內(nei)平均溫(wen)度≤30℃）

環境濕度：≤85%RH

4、供水條件(jian)（僅限濕熱型及需要用水設備）

采用純凈(jing)水(shui)、蒸餾水(shui)、去離子(zi)水(shui)。電(dian)阻率≥500&Omega;.m

5、其它注意事(shi)項

試(shi)(shi)驗過程中打開(kai)試(shi)(shi)驗箱的門，會造成箱內的溫、濕(shi)度波(bo)動；在試(shi)(shi)驗過程中如果多次打開(kai)門或長時間敞開(kai)門或試(shi)(shi)驗樣品散發濕(shi)汽，可能會造成制冷系統換(huan)熱器結(jie)冰而無法正常工(gong)作(zuo)。