簡要描述:測溫(wen)沖擊普(pu)測試(shi)(shi)(shi)儀(yi)器(qi)(qi)/冷熱沖擊試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)儀(yi)器(qi)(qi)廠家執(zhi)行和滿足(zu)的試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方(fang)法有:SJ/T10187-91Y73系(xi)列溫(wen)度(du)變化(hua)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)箱——一(yi)箱式;SJ/T10186-91Y73系(xi)列溫(wen)度(du)變化(hua)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)箱——二箱式;GB/T2423.22-1989溫(wen)度(du)變化(hua)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan);GB/T2423.2-1989高溫(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方(fang)法;GB/T2423.1-1989低溫(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方(fang)法;GJB360.7-87溫(wen)度(du)沖擊試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan);GJB150.5-86溫(wen)度(du)沖擊試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan);IEC
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品牌 | 愛佩科技/A-PKJ |
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測溫沖擊普測試儀器/冷熱沖擊試驗儀器廠家適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。本設備可實際溫度定值或程序控制,愛佩采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調節壓縮機制冷功率,較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關鍵零配件均采用*,使愛佩品牌的半導體冷熱沖擊試驗箱與半導體冷熱沖擊試驗機的整體質量和穩定性得到了提升和保證。本公司還可以根據顧客的尺寸要求及溫度范圍定制。
測溫沖擊普測試儀器/冷熱沖擊試驗儀器廠家因為溫度可以隨時變化做試驗,所以也能稱它為溫沖溫變箱。此設備的主要特點是溫度試驗可以設定快速沖擊及快速變化,zui快可以在3秒鐘內從高溫變到低溫,5分鐘內完成沖擊 效果。破壞能力*,功率比普通高低溫試驗箱高出許多倍。所以技術難度及成本也相對高許多。該試驗設備主要用于對電工、電子產品,以及其元器件等各類產品按照國家軍用標準要求或用戶自定要求,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對原產品的物理以及其他相關特性進行環境模擬試驗,試驗后,通過檢測,來判斷相關產品的性能是否仍然能夠符合預定要求,以便供各類產品的設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
的技術參數:
▲保溫材質 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料
▲系統 P.I.D + S.S.R + 微電腦平衡調溫控制系統
▲冷卻系統 半密閉式雙段壓縮機(水冷式)/全密閉式雙段壓縮機(風冷式)
▲安全保護裝置 無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關,冷媒高壓保護開關、故障警告系統,
▲電子警報器
▲配件觀視窗(特殊選購型)、上下可調隔層兩片、通電測試孔、腳輪、水平支架
▲電 源:AC380V 50Hz/60Hz 3
▲尺寸可選擇:W×H×D:40×35×30(cm);50×40×40 (cm);60×50×50 (cm);70×60×60(cm)更大尺寸可非標定制。
▲升溫時間(蓄熱區):RT~200℃約需35min
▲降溫時間(蓄冷區):RT~-70℃約需85min
▲溫度回復時間/轉換時間:≤5min內 / ≤l0秒內
▲溫度控制精度/分布精度:±0.5℃/±2.0℃
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