簡要描述:低(di)溫(wen)設備/高溫(wen)設備/高低(di)溫(wen)試驗箱(xiang)檢測設備用(yong)途:該系列設備廣泛用(yong)于比較細小(xiao)的(de)電(dian)子、電(dian)工產品(pin)、如小(xiao)的(de)工業原(yuan)材料、小(xiao)型的(de)零(ling)部件、或者小(xiao)型的(de)成(cheng)品(pin)如手機或者其它產品(pin)的(de)耐低(di)溫(wen)試驗或者耐低(di)溫(wen)儲存。
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品牌 | 愛佩科技/A-PKJ |
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低溫設備/高溫設備/高低溫試驗箱檢測設備選型資料如下:
型號:AP-GD-80 /AP-GD-150 /AP-GD-225 /AP-GD-408 /AP-GD-800/AP-GD-1000(更多型號在愛佩)
內箱尺寸cm:80L:40×50×40, 150L:50×60×50, 225L:50×75×60,408L:60×85×80, 800L:100×100×80,1000L:100×100×100
外箱尺寸cm:80L:93×131×81,150L:103×141×91, 225L:108×162×112,408L:117×172×132, 800L:160×187×132, 1000L:150×195×165
容積(升=L) :80L,150L,225L,408L,800L,1000L
溫度笵圍:0℃~150℃、-20℃~150℃、-40℃~150℃、-70℃~150℃
升溫速度 :RT~150℃約40min
降溫速度:20℃~0℃約25min,20℃~-20℃約40min,20℃~-40℃約60min,20℃~-70℃約100min
溫度分布均度 :±2℃
溫度波動度:±0.5℃
程控 :120組1200段編程,999次循環設定,并附多(duo)組PID控制(zhi)功能,附RS-232計算機接口控制(zhi)。
低溫設備/高溫設備/高低溫試驗箱檢測設備執行與滿足標準
GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
GB/T2423.1-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法;
GB/T2423.2-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B:高溫試驗方法;
GB/T 2423.22-2002電工電子產品基本環境試驗規程 試驗N 溫度變化試驗方法;
GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術條件》;
GB/T 10589-2008《低(di)溫試驗箱技術(shu)條(tiao)件》;。
主要(yao)(yao)是供(gong)給于工業行(xing)業的產品(pin)如:光電(dian)、LED、電(dian)工、電(dian)器、電(dian)子、塑膠、油漆(qi)、涂料(liao)、機動車(che)配件(jian)、手機、電(dian)腦、打印(yin)機等產品(pin)以(yi)(yi)及(ji)原材料(liao)在(zai)低(di)溫(wen)的環(huan)境(jing)中使用(yong)或(huo)者(zhe)擺(bai)放等時試驗(yan)其所(suo)反應的性(xing)能指標(biao)。該低(di)溫(wen)試驗(yan)機主要(yao)(yao)用(yong)于對產品(pin)按照國(guo)家標(biao)準要(yao)(yao)求(qiu)或(huo)用(yong)戶自定(ding)要(yao)(yao)求(qiu),在(zai)低(di)溫(wen)的條件(jian)下(xia),對產品(pin)的物(wu)理以(yi)(yi)及(ji)其它相關(guan)特性(xing)進(jin)行(xing)模擬低(di)溫(wen)環(huan)境(jing)測試;測試后(hou),通(tong)過檢(jian)測來判斷(duan)產品(pin)的性(xing)能是否仍然能夠符合(he)預定(ding)要(yao)(yao)求(qiu),以(yi)(yi)便供(gong)產品(pin)設計、改進(jin)、鑒(jian)定(ding)及(ji)出廠檢(jian)驗(yan)用(yong)。
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