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簡(jian)要描述(shu)：攝(she)像(xiang)頭溫控(kong)老(lao)化箱｜高低(di)溫控(kong)試(shi)驗箱用途：該系列設(she)備(bei)廣(guang)泛用于(yu)比較細(xi)小的(de)電子(zi)、電工(gong)產品(pin)、如小的(de)工(gong)業原材料、小型的(de)零(ling)部件、或(huo)者小型的(de)成品(pin)如手機或(huo)者其它產品(pin)的(de)耐(nai)(nai)低(di)溫試(shi)驗或(huo)者耐(nai)(nai)低(di)溫儲存。
產品型號AP-GD廠商性質生產廠家更(geng)新時間2024-10-31訪 問 量955產品分類
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| 品牌 | 愛佩科技/A-PKJ |
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攝像頭溫控老化箱｜高低溫控試驗箱用途：該系列設備廣泛用于比較細小的電子、電工產品、如小的工業原材料、小型的零部件、或者小型的成品如手機或者其它產品的耐低溫試驗或者耐低溫儲存。
攝像頭溫控老化箱｜高低溫控試驗箱擁有以下特點：
1.（BTHC）平衡調溫調控制系統,高低溫循環實驗與測試以P.I.D.方式控制SSR,使系統之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩定的給車載導航儀做恒溫實驗與測試使用。
2.為車載導航儀做全新*的造型設計，外觀高質感水平,系統提取、*技術之精華設計制造。
3.愛佩采用全毛細管,自動負載容量調整系統技術,較膨脹伐系統更穩定可靠,溫度控制精確，升降溫速度*國家標準、性能穩定、均勻度佳、波動度小， 為用者節約成本關帶來高效率的測試工作。
技術指標：
技術參數：
1.使用環境條件：盡量保證環境溫度在+25℃左右，zui高不超過35度，空載(部份參數依備注)無試樣時。
2.溫度均勻度：±2℃
3.顯示精度：±0.01℃；
4.溫度波動度：±0.5℃；
5.溫度偏差：≤±2.0℃；
6.升溫速率：平均3℃/min（從+25℃升到+150℃約30min、非線性空載）；
7.降溫速率：平均1℃/min（從+25℃降到-40℃約60min、非線性空載）；
8.升降溫過沖：≤±2.0℃；
9.zui大負載：無；
10.恒定zui大發熱負載：無；
11.噪音：≤70dB（A 聲級）
執行與滿足的標準：
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》；
GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
GB/T2423.1-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產品(pin)基(ji)本(ben)環境試(shi)(shi)(shi)驗規(gui)程 試(shi)(shi)(shi)驗B：高溫試(shi)(shi)(shi)驗方法；
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