電子產品高低溫沖擊試驗箱滿足(zu)試驗方(fang)法

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗方法 Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb

GB2423.22-87溫度變化試(shi)驗方(fang)法

GJB150.5-86溫度沖擊(ji)試驗

GJB360.7-87溫度(du)沖擊(ji)試驗

GJB367.2-87溫度沖(chong)擊(ji)試驗(yan)

（每立方米負載不大于35kg/m3鋼的熱容量，濕熱試驗(yan)時無(wu)有源濕、熱負載）

電子產品高低溫沖擊試驗箱產品特點：

1、試驗系統結構設計*合理，GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

2、該(gai)試驗箱(xiang)主要(yao)功能元(yuan)器件均采用世界ming牌配置（含金(jin)量高）、技術原理可靠、噪音(yin)與(yu)節(jie)能得(de)到(dao)控(kong)制——其性(xing)能可替代(dai)國外同類產品(pin)。

3、整機制冷系統采用PID演算控制,不需加配發熱管消耗額外功率，省電高達35%

4、設備(bei)具有(you)良好的(de)操作性(xing)、維護性(xing)、良好的(de)溫度穩定(ding)性(xing)及持久性(xing)、良好的(de)安全性(xing)能、*及危害人身健康。

型號及技術參數如下：(分別是寬×高×深) (mm)

AP-CJ-50內箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440

AP-CJ-80內箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440

AP-CJ-100內箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440

AP-CJ-150內箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540

AP-CJ-250內箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640

AP-CJ-480內箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150

高溫室：預熱溫度范圍，RT 20℃~200℃升溫時間: 20℃~ 200℃約30min

低溫室：預冷溫度范圍，RT~-80℃降溫時間: 20℃~-80℃約80min

實驗室沖擊：溫度均勻度±2.0℃

溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃

?電源均采用：3∮5W AC380±10% 50/60HZ

售后服(fu)務(wu)

用戶的滿意是(shi)(shi)我們(men)服(fu)務的宗旨，完善的售后服(fu)務使您解除一切后顧之憂，我們(men)堅信一個好(hao)的企業賣(mai)出去的不(bu)僅僅是(shi)(shi)一臺好(hao)的產品，更重要的是(shi)(shi)良好(hao)的服(fu)務。廣(guang)東愛(ai)佩試(shi)驗設備(bei)有限公司負責對(dui)本公司產品提供以下(xia)售后服(fu)務：

1.技(ji)術培訓：操作(zuo)使用(yong)、日常維護保養、常見故障檢測和排除(chu)

2.定期回訪(fang)：設備巡檢(jian)，排除故障(zhang)隱患，傳遞消息

3.備品(pin)、備件專項儲備支持(chi)

4.售后服務部(bu)提供(gong)維修服務的快速響應

5.專職維修人員(yuan)確保及時(shi)、有效地排除(chu)故障