簡要描述(shu):高(gao)低溫(wen)沖(chong)擊(ji)試驗測試箱適用于電(dian)子(zi)(zi)電(dian)器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學(xue)材(cai)(cai)料、金屬、塑膠(jiao)等(deng)行業、航天、國防(fang)工(gong)業、BGA、兵工(gong)業、PCB基扳、電(dian)子(zi)(zi)芯片IC、半(ban)導體(ti)陶磁(ci)及高(gao)分(fen)子(zi)(zi)材(cai)(cai)料之物對高(gao)、低溫(wen)的(de)(de)反(fan)復抵拉力及產(chan)品(pin)(pin)處于熱脹冷縮的(de)(de)物理環境產(chan)出的(de)(de)化學(xue)變化或物理傷害,可確(que)認(ren)(ren)各種產(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)品(pin)(pin)質,從(cong)精密(mi)的(de)(de)IC到重機械的(de)(de)組件,無一不(bu)需要它(ta),目前此設備是工(gong)業產(chan)業共認(ren)(ren)的(de)(de)理想測試工(gong)具(ju)。
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