口罩恒溫恒濕測試箱是用(yong)來做工(gong)業(ye)產(chan)品(pin)(pin)恒(heng)(heng)定溫(wen)濕度(du)(du)試驗(yan)用(yong)的(de)(de)，所以也可以叫小(xiao)(xiao)(xiao)型恒(heng)(heng)溫(wen)恒(heng)(heng)濕試驗(yan)箱。它們(men)的(de)(de)特點是體型小(xiao)(xiao)(xiao)，功率小(xiao)(xiao)(xiao)、耗電量小(xiao)(xiao)(xiao)等優勢。只是美中不足的(de)(de)地方就(jiu)是不可以放大件的(de)(de)試驗(yan)樣(yang)品(pin)(pin)。只針對小(xiao)(xiao)(xiao)型或(huo)者細小(xiao)(xiao)(xiao)型或(huo)者中小(xiao)(xiao)(xiao)型的(de)(de)工(gong)業(ye)產(chan)品(pin)(pin)使用(yong)。目前愛佩公司生產(chan)的(de)(de)小(xiao)(xiao)(xiao)型恒(heng)(heng)溫(wen)恒(heng)(heng)濕箱、小(xiao)(xiao)(xiao)型恒(heng)(heng)溫(wen)恒(heng)(heng)濕試驗(yan)箱zui小(xiao)(xiao)(xiao)的(de)(de)容積為(wei)80L內箱尺(chi)寸為(wei)：寬40cm,高50cm,深40cm；溫(wen)度(du)(du)范圍(wei)可選擇：0℃/-20℃/-40℃/-60℃/-70℃~150度(du)(du)；濕度(du)(du)20%~98%。

技術參(can)數： 

一、使用環(huan)境條(tiao)件：盡量保證環(huan)境溫度(du)在+25℃左右，zui高不超過(guo)35度(du)，空載(部份(fen)參數依備(bei)注(zhu))無試樣時(shi)。

二(er)、溫度均勻(yun)度：      ±2℃

三、顯示精度(du)：        ±0.01℃；

四、溫(wen)度波(bo)動度：      ±0.5℃；

五、溫度偏差：        ≤±2.0℃； 

七、升溫速率：        平均3℃/min（從+25℃升到+150℃約30min、非線性空(kong)載）；

八、降溫速率：        平均1℃/min（從+25℃降到-40℃約60min、非線性空載）；

九、升降溫過沖：      ≤±2.0℃；

十、zui大負載：  ;      無(wu)；

十一、恒定zui大發熱負載：無；

十二(er)、噪(zao)音(yin)：            ≤65dB（A 聲級(ji)）

特(te)點： 

一、小(xiao)巧型(xing)(xing)設(she)計，噪(zao)聲小(xiao)，輕(qing)巧緊湊(cou)，外形美觀，機身小(xiao)內容積大，外型(xing)(xing)不占空間(jian)，適合(he)辦公室使用。

二、：箱體(ti)內膽材料(liao)采用(yong)進口優(you)質不銹鋼（SUS304），具(ju)有良好的低溫強(qiang)度(du)、耐蝕(shi)性(xing)、耐熱(re)(re)性(xing)和機(ji)械特性(xing)；沖壓、彎曲等熱(re)(re)加工性(xing)好，無熱(re)(re)處理硬化(hua)現象（無磁性(xing)，使用(yong)溫度(du)-196℃～800℃），外箱采用(yong)優(you)質鋼板(ban)噴塑烤(kao)漆。

三、采用三元TEMI880微電(dian)腦溫濕(shi)(shi)度(du)控(kong)制器，觸摸屏操作方式，中英文畫面可切換(huan)，*由微電(dian)腦自動控(kong)制鎖定，控(kong)溫控(kong)濕(shi)(shi)精確可靠(kao)。

四、大型(xing)觀測(ce)窗(chuang)口采用雙層玻璃，附照明燈，方(fang)便隨時清晰觀測(ce)箱內(nei)試驗狀況。

五、9組PID控制參數設(she)定，具(ju)有(you)PID值自動演算功能，zui大120組程序容(rong)量，999次循(xun)環設(she)定。

六、設有獨立(li)限溫報警(jing)(jing)系(xi)統(tong)，超過限制溫度即自動中斷(duan)，缺水提(ti)示報警(jing)(jing)、防(fang)干(gan)燒報警(jing)(jing)、保證試驗過程(cheng)安全(quan)運行。

口罩恒溫恒濕測試箱執行(xing)與滿足的標準：

GB/T 10589-2008《低溫(wen)試驗箱(xiang)技術條(tiao)件》；

GB/T 10586-2006《濕熱(re)試(shi)驗箱(xiang)技(ji)術條件》。

GB/T5170.2-2008 電工電子(zi)產品環境試驗(yan)設備檢驗(yan)方法 溫度試驗(yan)設備

GB/T ;5170.5-2008 電工電子產品環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan)設(she)備檢驗(yan)方(fang)法 濕熱試(shi)驗(yan)設(she)備

GB/T2423.1-2008電工電子產品(pin)基本環境試驗規程 試驗A：低(di)溫試驗方(fang)法；

GB/T2423.2-2008電工(gong)電子(zi)產品基本環境試(shi)驗規(gui)程 試(shi)驗B：高溫試(shi)驗方法(fa)；

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