產品分類
Product Category高低(di)溫(wen)沖擊箱(xiang)|水冷(leng)式冷(leng)熱循(xun)環沖擊箱(xiang)主要(yao)是針對(dui)于(yu)電工(gong)、電子(zi)產(chan)(chan)品(pin)(pin),以(yi)(yi)及(ji)其(qi)原器件,及(ji)其(qi)它(ta)材(cai)料(liao)在溫(wen)度(du)急劇變(bian)化(hua)的(de)環境下貯存、運輸、使(shi)用時(shi)的(de)適應(ying)性(xing)試驗。主要(yao)用于(yu)對(dui)產(chan)(chan)品(pin)(pin)按照國家軍用標準要(yao)求(qiu)或用戶(hu)自定要(yao)求(qiu),在高溫(wen)與(yu)低(di)溫(wen)瞬間變(bian)化(hua)條件下,對(dui)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)物理以(yi)(yi)及(ji)其(qi)他相(xiang)關(guan)特性(xing)進行(xing)環境模擬(ni)測(ce)試,測(ce)試后,通過檢(jian)測(ce),來判斷產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)性(xing)能,是否仍(reng)然能夠(gou)符合預定要(yao)求(qiu),以(yi)(yi)便供產(chan)(chan)品(pin)(pin)設(she)計、改(gai)進、鑒(jian)定及(ji)出廠檢(jian)驗用。
三箱冷熱(re)沖(chong)擊箱,又稱三箱式冷熱(re)沖(chong)擊試驗箱,是(shi)一種(zhong)先(xian)進(jin)的環境模擬設備,用于測試材料、結構或復合材料在(zai)短時間內經歷高(gao)溫與低溫連續(xu)環境變化(hua)下的耐(nai)受能力。
電池沖(chong)擊試驗機性能參(can)數參(can)考如下:$n1.*的造型升級(ji),操作(zuo)簡單之面板接(jie)口。$n2.采用OYO9226S彩色(se)觸(chu)控(kong)(kong)LCD中/英文微電腦溫度控(kong)(kong)制器。$n3.立式三箱(xiang)結(jie)構,高低(di)溫箱(xiang)循環過程自動控(kong)(kong)制,停留及轉換時間可調(diao),不銹(xiu)鋼內膽,多(duo)形式記錄。$n4.設有多(duo)重安全保護措施及裝(zhuang)置。
實驗室耐寒沖擊(ji)測(ce)試箱|手(shou)機高低溫(wen)沖擊(ji)機能使各種物品(pin)在Z短的(de)時間內完成(cheng)測(ce)試,熱震中產生的(de)變化或(huo)物理(li)傷害是熱脹冷縮改(gai)變或(huo)其他物理(li)性值的(de)改(gai)變而引起的(de)。
高低溫光電沖擊試(shi)驗箱主要測試(shi)材料(liao)對*溫或極低溫的(de)抵抗力,這種(zhong)情況類似于不連(lian)續(xu)地處于高溫或低溫中的(de)情形,冷熱沖擊試(shi)驗能使(shi)各種(zhong)物品在Z短的(de)時間內完(wan)成(cheng)測試(shi)。
實驗(yan)室(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊試驗(yan)箱子|實驗(yan)室(shi)高低溫(wen)沖(chong)擊試驗(yan)箱子性能參數參考如下: 一、低溫(wen)沖(chong)擊可選擇溫(wen)度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費配高溫(wen)至150度) 二、溫(wen)度偏(pian)差:±2℃
冷熱沖擊試(shi)驗機通(tong)常由控制(zhi)系統、加熱裝置、制(zhi)冷裝置和(he)測試(shi)室組成,能夠在(zai)不(bu)同溫度下進(jin)行循環冷卻和(he)加熱操(cao)作。通(tong)過冷熱沖擊試(shi)驗機的(de)測試(shi),可(ke)以評估材料的(de)可(ke)靠性和(he)耐(nai)用性,并確定(ding)其(qi)是(shi)否適合特定(ding)的(de)應(ying)用場景。
塑料(liao)冷熱(re)沖擊試(shi)驗箱|橡膠高低溫(wen)沖擊測試(shi)箱簡介:是金屬、塑料(liao)、橡膠、電(dian)子等材(cai)料(liao)行業*的(de)測試(shi)設備,用于測試(shi)材(cai)料(liao)結構或復合(he)材(cai)料(liao),在(zai)瞬間(jian)下(xia)(xia)經*溫(wen)及極(ji)低溫(wen)的(de)連續環境下(xia)(xia)忍受(shou)的(de)程度,得以在(zai)Z短時間(jian)內(nei)檢測試(shi)樣因(yin)熱(re)脹冷縮所(suo)引(yin)起的(de)化(hua)學變(bian)化(hua)或物理傷害。
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