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冷(leng)熱溫度(du)沖(chong)擊(ji)(ji)試驗機廠家用來(lai)測試工(gong)(gong)業成品(pin)或(huo)半成品(pin)材料的(de)復合結(jie)構在高(gao)溫與(yu)低溫快速(su)沖(chong)擊(ji)(ji)反應下(xia)所能承受的(de)環境程(cheng)度(du)。適(shi)(shi)用于電工(gong)(gong)電子工(gong)(gong)業,軍工(gong)(gong)工(gong)(gong)業、兵器(qi)工(gong)(gong)業、自動化(hua)零組(zu)件、汽車配件、儀(yi)器(qi)儀(yi)表零組(zu)件、五金塑膠、化(hua)工(gong)(gong)業、BGA、PCB基扳、觸摸屏(ping)行業電子芯(xin)片IC、半導體LED光電及相關(guan)產品(pin)等行業在周圍(wei)大氣溫度(du)急劇變(bian)化(hua)條件下(xia)的(de)適(shi)(shi)應性(xing)沖(chong)擊(ji)(ji)測試實驗。

充電樁低(di)溫(wen)(wen)沖擊箱(xiang)就(jiu)是把高低(di)溫(wen)(wen)度通過控制器(qi)設(she)定它們(men)的(de)升降溫(wen)(wen)加速(su)從而有規律的(de)去給(gei)工(gong)(gong)業產(chan)品(pin)(pin)做(zuo)溫(wen)(wen)度循(xun)環(huan)應(ying)力(li)篩選試(shi)驗。本設(she)備(bei)是各式各樣的(de)產(chan)品(pin)(pin)在(zai)設(she)計強(qiang)度極(ji)(ji)限下，運(yun)用人工(gong)(gong)模擬環(huan)境溫(wen)(wen)度加速(su)技巧(qiao)（在(zai)上、下限極(ji)(ji)值溫(wen)(wen)度內進行循(xun)環(huan)時，產(chan)品(pin)(pin)產(chan)生(sheng)交替膨脹和收縮）改變(bian)外在(zai)環(huan)境應(ying)力(li)，使產(chan)品(pin)(pin)中產(chan)生(sheng)熱應(ying)力(li)和應(ying)變(bian)，透過加速(su)應(ying)力(li)來使潛存于產(chan)品(pin)(pin)的(de)瑕(xia)疵浮現(xian)[潛在(zai)零件材(cai)料瑕(xia)疵、制程(cheng)瑕(xia)疵、工(gong)(gong)藝瑕(xia)疵]，以避免該產(chan)品(pin)(pin)批(pi)量于使用過程(cheng)中，受到環(huan)境應(ying)力(li)的(de)

電熱(re)膜LED高(gao)低(di)溫(wen)(wen)沖擊測(ce)(ce)試箱用壓縮(suo)機(ji)為(wei)主(zhu)的(de)(de)制(zhi)冷系統制(zhi)冷產生低(di)溫(wen)(wen)（也(ye)稱冷溫(wen)(wen)）及(ji)在加熱(re)系統中(zhong)產生的(de)(de)高(gao)溫(wen)(wen)（也(ye)稱熱(re)溫(wen)(wen)）中(zhong)兩溫(wen)(wen)度經(jing)過控制(zhi)器操控來回沖擊試驗led產品或配件，檢測(ce)(ce)其所受的(de)(de)在短(duan)時間內(nei)經(jing)極(ji)冷溫(wen)(wen)及(ji)極(ji)熱(re)溫(wen)(wen)的(de)(de)連續循環環境下(xia)所能承受的(de)(de)物理變化(hua)。

發熱(re)(re)芯LED高低(di)溫(wen)沖擊測(ce)試(shi)箱(xiang)常用于led產(chan)(chan)品(pin)行業,所(suo)以(yi)(yi)被冠上使用產(chan)(chan)品(pin)+設(she)備名稱。本設(she)備適用于測(ce)試(shi)發熱(re)(re)芯led產(chan)(chan)品(pin)在瞬間下經(jing)極熱(re)(re)溫(wen)和(he)極冷(leng)溫(wen)的(de)(de)連續環境下所(suo)能承受(shou)的(de)(de)程度，即以(yi)(yi)在Z短時間內試(shi)驗led成品(pin)或(huo)配(pei)件、led顯示屏、led燈具等相(xiang)關產(chan)(chan)品(pin)因(yin)熱(re)(re)脹冷(leng)縮所(suo)引起的(de)(de)化學(xue)變化和(he)物理傷害。

可程(cheng)式冷(leng)熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱采用(yong)加(jia)熱(re)、制(zhi)(zhi)冷(leng)、送風等(deng)方(fang)式，通過控制(zhi)(zhi)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度來實現快(kuai)速(su)升溫(wen)(wen)(wen)(wen)、快(kuai)速(su)降(jiang)溫(wen)(wen)(wen)(wen)或(huo)快(kuai)速(su)變溫(wen)(wen)(wen)(wen)的(de)操作。其控制(zhi)(zhi)系(xi)統采用(yong)進口(kou)PLC和(he)觸摸(mo)屏，具有高精度溫(wen)(wen)(wen)(wen)控、多(duo)組設(she)定存儲功(gong)能等(deng)優點。

深圳實驗(yan)室冷熱(re)沖(chong)擊箱特點(dian)優勢產品外形(xing)美觀、結(jie)構合理、工藝(yi)*、選材考究，風冷式冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)箱具有簡單便利(li)的(de)(de)(de)操作性能和可靠(kao)的(de)(de)(de)設備性能。 設備分(fen)為(wei)高溫(wen)箱,低溫(wen)箱,測試(shi)(shi)箱三部分(fen),采*之(zhi)斷熱(re)結(jie)構及蓄(xu)熱(re)蓄(xu)冷效果，試(shi)(shi)驗(yan)時(shi)待測物(wu)*靜止，應用(yong)冷熱(re)風路切換方式將(jiang)冷,熱(re)溫(wen)度(du)導入測試(shi)(shi)區實現(xian)冷熱(re)沖(chong)擊測試(shi)(shi)目(mu)的(de)(de)(de).

溫度循環(huan)沖(chong)擊測(ce)(ce)試(shi)(shi)箱報(bao)價使用(yong)于(yu)電子、汽車配件、LED、LCD、塑膠等行業，測(ce)(ce)試(shi)(shi)各種材料對高、低溫的反(fan)復抵拉(la)力，試(shi)(shi)驗出產品于(yu)熱脹冷(leng)縮所產生的化(hua)學(xue)變化(hua)或物理傷害(hai)，可確認產品的品質(zhi)，從精密的IC到重機械的組件，無一不(bu)需(xu)要它的認同(tong)。

LED高(gao)低溫(wen)沖擊(ji)測(ce)試箱用于測(ce)試材料結(jie)構或復合(he)材料，在瞬(shun)間(jian)下經*溫(wen)和極(ji)低溫(wen)的連續環境下所能承受的程度(du)，借以在Z短時間(jian)內試驗其熱脹冷縮所引(yin)起的化學變化或物理傷害，適用的對象包括OLED、OLED有(you)機發(fa)光二極(ji)管、OLED顯示屏(ping)、OLED電(dian)視(shi)、OLED面板、OLED顯示器、金屬(shu)，塑(su)料，橡膠，電(dian)子(zi)等材料，可(ke)作(zuo)為其產品改(gai)進的依據(ju)或參考。