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吊籃式(shi)冷(leng)熱沖擊(ji)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)采用整體(ti)(ti)式(shi)組(zu)合結構形(xing)式(shi)，既(ji)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)由位于(yu)(yu)(yu)上(shang)部的(de)(de)(de)高(gao)溫試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)，位于(yu)(yu)(yu)下部的(de)(de)(de)低溫試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)體(ti)(ti)、位于(yu)(yu)(yu)后部的(de)(de)(de)制(zhi)冷(leng)機(ji)組(zu)柜和位于(yu)(yu)(yu)左側后板上(shang)的(de)(de)(de)電器控制(zhi)柜（系統）所組(zu)成(cheng)。此方式(shi)箱(xiang)體(ti)(ti)占地面積小、結構緊湊、外形(xing)美觀，制(zhi)冷(leng)機(ji)組(zu)置(zhi)(zhi)于(yu)(yu)(yu)獨立(li)的(de)(de)(de)機(ji)組(zu)箱(xiang)體(ti)(ti)內，以(yi)減少(shao)制(zhi)冷(leng)機(ji)組(zu)運行時的(de)(de)(de)震動、噪聲對試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)的(de)(de)(de)影響，同時便于(yu)(yu)(yu)機(ji)組(zu)的(de)(de)(de)安(an)裝和維(wei)修，電器控制(zhi)面板置(zhi)(zhi)于(yu)(yu)(yu)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)的(de)(de)(de)左側板上(shang)以(yi)便于(yu)(yu)(yu)運行操作。

led冷熱(re)(re)(re)沖擊試驗機基于快速(su)溫(wen)(wen)度(du)變(bian)化(hua)技術。它通常由熱(re)(re)(re)溫(wen)(wen)區(qu)(qu)(qu)、冷溫(wen)(wen)區(qu)(qu)(qu)和測試區(qu)(qu)(qu)三部(bu)分組成，具有(you)蓄熱(re)(re)(re)蓄冷沖擊效果。在(zai)(zai)測試過程中(zhong)，待測LED產(chan)品首(shou)先在(zai)(zai)熱(re)(re)(re)溫(wen)(wen)區(qu)(qu)(qu)或(huo)冷溫(wen)(wen)區(qu)(qu)(qu)達到穩態溫(wen)(wen)度(du)，然后(hou)迅速(su)移動到測試區(qu)(qu)(qu)以(yi)暴露于相反(fan)的溫(wen)(wen)度(du)。

自動(dong)(dong)(dong)循(xun)環(huan)沖擊(ji)試驗箱(xiang)區分(fen)為(wei)高溫(wen)(wen)區、低(di)(di)溫(wen)(wen)區、測試區三(san)部分(fen)， 各(ge)區之箱(xiang)體采*之斷熱結構。沖擊(ji)方式(shi)應用(yong)風(feng)路切換方式(shi)將溫(wen)(wen)度導入測試區，做冷(leng)(leng)(leng)熱沖擊(ji)測試。高溫(wen)(wen)沖擊(ji)或低(di)(di)溫(wen)(wen)沖擊(ji)時，Z大時間可(ke)(ke)達9999分(fen)鐘，Z大循(xun)環(huan)周期可(ke)(ke)達9999次。系統可(ke)(ke)作(zuo)(zuo)自動(dong)(dong)(dong)循(xun)環(huan)沖擊(ji)或手動(dong)(dong)(dong)選擇性沖擊(ji)并可(ke)(ke)設定二區或三(san)區沖擊(ji)及冷(leng)(leng)(leng)沖熱沖啟(qi)始。冷(leng)(leng)(leng)卻采二元冷(leng)(leng)(leng)凍系統，降溫(wen)(wen)效果(guo)快速，冷(leng)(leng)(leng)卻方式(shi)為(wei)風(feng)冷(leng)(leng)(leng)式(shi)或水冷(leng)(leng)(leng)式(shi)兩(liang)種(zhong)。采用(yong)彩色中英文(wen)LCD觸(chu)控式(shi)圖控操作(zuo)(zuo)介(jie)面，操作(zuo)(zuo)

上海沖擊試(shi)驗(yan)(yan)機(ji)根據試(shi)驗(yan)(yan)需求及(ji)測(ce)試(shi)標準(zhun)(zhun)分為(wei)(wei)三(san)箱式和(he)(he)兩箱式，區別在(zai)于試(shi)驗(yan)(yan)方(fang)式和(he)(he)內部(bu)結構不同(tong)，適用于電子元氣(qi)件的安全性(xing)能測(ce)試(shi)提供可靠性(xing)試(shi)驗(yan)(yan)、產(chan)品篩選試(shi)驗(yan)(yan)等，同(tong)時通(tong)過此裝(zhuang)備試(shi)驗(yan)(yan)，可提高(gao)產(chan)品的可靠性(xing)和(he)(he)進行產(chan)品的質量控制，產(chan)品符合標準(zhun)(zhun)為(wei)(wei):GB/T2423.1-2008試(shi)驗(yan)(yan)A 、GB/T2423.2-2008試(shi)驗(yan)(yan)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方(fang)法107溫度沖擊試(shi)

賓得高低溫沖擊箱(xiang)適用于電子(zi)元(yuan)氣(qi)件的(de)(de)(de)(de)安全性(xing)能測試(shi)提供可(ke)靠性(xing)試(shi)驗(yan)、產品(pin)篩選試(shi)驗(yan)等(deng)，同時通(tong)過此(ci)裝備(bei)試(shi)驗(yan)，可(ke)提高產品(pin)的(de)(de)(de)(de)可(ke)靠性(xing)和(he)進(jin)行產品(pin)的(de)(de)(de)(de)質量控制。高低溫沖擊試(shi)驗(yan)箱(xiang)是(shi)航空、汽車、家電、科研(yan)等(deng)領域*的(de)(de)(de)(de)測試(shi)設(she)備(bei)，考核和(he)確定電工(gong)、電子(zi)、汽車電器、材料等(deng)產品(pin)，在進(jin)行高低溫試(shi)驗(yan)的(de)(de)(de)(de)溫度環(huan)境沖擊變化后的(de)(de)(de)(de)參數及性(xing)能，使用的(de)(de)(de)(de)適應性(xing)，適用于學校，工(gong)廠，軍工(gong)，研(yan)位，等(deng)單位.

電路板高低溫沖擊測試(shi)設備產品外(wai)形美觀、結(jie)構合理、工(gong)藝*、選材考究，具有簡單便利的操作性(xing)能和(he)可靠的設備性(xing)能。設備分為高溫箱,低溫箱,測試(shi)箱三部分,采*之斷熱結(jie)構及蓄(xu)熱蓄(xu)冷(leng)(leng)效(xiao)果，試(shi)驗(yan)時待(dai)測物*靜止(zhi)，應用冷(leng)(leng)熱風路切(qie)換方式將冷(leng)(leng),熱溫度導入測試(shi)區實現冷(leng)(leng)熱沖擊測試(shi)目的.

高低溫沖擊機(ji)械性能(neng)(neng)試驗機(ji)全部功(gong)能(neng)(neng)采用計算機(ji)控制(zhi)，愛佩自(zi)主開研發的(de)(de)(de)控制(zhi)器，有良好的(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)(zuo)界面，使用戶的(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)(zuo)和監測都更(geng)加簡(jian)單和直觀(guan)，保持(chi)功(gong)能(neng)(neng)可以(yi)使你正在運行的(de)(de)(de)程序保持(chi)在目前的(de)(de)(de)狀態下，可以(yi)臨時(shi)更(geng)改此程序段的(de)(de)(de)數(shu)(shu)值，可以(yi)在屏幕上設置時(shi)間的(de)(de)(de)參數(shu)(shu)，使制(zhi)冷、加熱(re)、提藍傳(chuan)送切(qie)換，按設定值自(zi)動(dong)進行。

元器(qi)件熱沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)適(shi)用(yong)于(yu)質量控制的(de)實(shi)驗(yan)室，確(que)定(ding)電(dian)(dian)工(gong)電(dian)(dian)子(zi)(zi)產(chan)品(pin)在貯存、運輸和使(shi)用(yong)期間可能遇(yu)到的(de)溫(wen)度迅速(su)變化的(de)條件下的(de)適(shi)應(ying)性，又(you)可滿足生(sheng)產(chan)過程中篩選(xuan)商用(yong)產(chan)品(pin)。適(shi)用(yong)的(de)對(dui)象(xiang)包括金(jin)屬，塑料(liao)，橡膠，電(dian)(dian)子(zi)(zi)、LED、LCD、通訊組件、汽車配件、化學材料(liao)、航(hang)天、國防工(gong)業、電(dian)(dian)子(zi)(zi)芯片IC、半導(dao)體陶(tao)瓷及高分子(zi)(zi)材料(liao)等行(xing)業，可作為其(qi)產(chan)品(pin)改進的(de)依據或參考。