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  • AP-CJ線材高低溫沖擊試驗箱
    AP-CJ線材高低溫沖擊試驗箱

    線材(cai)(cai)(cai)高(gao)低溫沖擊(ji)試驗箱(xiang)是一種用于模擬線材(cai)(cai)(cai)在高(gao)低溫環(huan)境(jing)下受(shou)沖擊(ji)的測試設備。它能(neng)夠通過控制(zhi)溫度(du)和沖擊(ji)力度(du),檢測線材(cai)(cai)(cai)在不同溫度(du)下的沖擊(ji)強度(du)和耐受(shou)能(neng)力,以驗證其適用性和可靠(kao)性。該設備廣泛(fan)應用于電(dian)(dian)線電(dian)(dian)纜、汽車電(dian)(dian)子、航(hang)空航(hang)天(tian)等(deng)領域。

    更新時間:2024-11-05型號:AP-CJ訪問量:1286
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  • AP-CJ冷熱沖擊檢測設備
    AP-CJ冷熱沖擊檢測設備

    冷熱(re)沖擊檢(jian)測設備(bei)本試(shi)(shi)驗(yan)箱可模(mo)擬高溫(wen)(wen)(wen)(wen)恒溫(wen)(wen)(wen)(wen)、低溫(wen)(wen)(wen)(wen)恒溫(wen)(wen)(wen)(wen)、高溫(wen)(wen)(wen)(wen)恒濕、濕熱(re)交變(bian)等不同環(huan)(huan)境(jing)氣候的(de)(de)測試(shi)(shi)條(tiao)(tiao)件,專業供(gong)(gong)給廣州區域的(de)(de)工業界產(chan)(chan)業零配件或者工業成(cheng)品(pin)與半成(cheng)品(pin)提供(gong)(gong)最佳(jia)測試(shi)(shi)性(xing)能條(tiao)(tiao)件,廣泛適用于電子、電工、電器、汽(qi)車(che)配件、LED、手機、光伏、儀器儀表及(ji)其它產(chan)(chan)品(pin)零部件在(zai)高低溫(wen)(wen)(wen)(wen)濕熱(re)環(huan)(huan)境(jing)下貯存(cun)、運輸、使用時的(de)(de)適應性(xing)試(shi)(shi)驗(yan),確定上述產(chan)(chan)品(pin)對(dui)高低溫(wen)(wen)(wen)(wen)及(ji)濕熱(re)環(huan)(huan)境(jing)的(de)(de)耐溫(wen)(wen)(wen)(wen)耐濕適應性(xing)檢(jian)測

    更新時間:2024-11-05型號:AP-CJ訪問量:1186
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  • AP-CJ半導體冷熱沖擊試驗儀器
    AP-CJ半導體冷熱沖擊試驗儀器

    半導(dao)體冷熱沖擊(ji)試驗儀(yi)器控制(zhi)儀(yi)表采用(觸摸屏)全(quan)進(jin)口超大屏幕畫面來供客戶操作(zuo)及控制(zhi),熒幕操作(zuo)簡單,程(cheng)(cheng)式(shi)編輯容易(品牌有(you)三元或者OYO9226S可選擇)。 具有(you)120組程(cheng)(cheng)式(shi)12000段(duan)999循環步驟的容量,每段(duan)時(shi)間設定最大值為99小(xiao)時(shi)59分。 控制(zhi)器操作(zuo)界(jie)面設中英(ying)文可供選擇,實時(shi)運(yun)轉(zhuan)曲線圖可由(you)屏幕顯示。具有(you)RS-232或RS-485通訊界(jie)面,可在電(dian)腦上設計程(cheng)(cheng)式(shi)

    更新時間:2024-11-05型號:AP-CJ訪問量:1074
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  • AP-CJ大型高低溫沖擊試驗設備
    AP-CJ大型高低溫沖擊試驗設備

    它(ta)們方(fang)便于在溫度瞬間變化(hua)對試品(pin)的(de)(de)性(xing)能(neng)和品(pin)質作出評(ping)價(jia)。愛佩科技生產的(de)(de)具(ju)有以下幾個基本特點: A、試驗系統結構設(she)計(ji)*合理,外殼采用進口(kou)激(ji)光加工(gong)而成,平(ping)整光滑,制造工(gong)藝規范,外觀美(mei)(mei)觀、大(da)(da)方(fang),給(gei)人帶(dai)來(lai)美(mei)(mei)感,維護保(bao)(bao)養方(fang)便。 B、零(ling)部件的(de)(de)配套與(yu)組裝匹配性(xing)好,主要功能(neng)元器(qi)件均采用具(ju)原(yuan)裝國外進口(kou)件,提高了(le)產品(pin)的(de)(de)安全性(xing)和可靠性(xing),大(da)(da)型高低(di)溫沖擊試驗設(she)備能(neng)保(bao)(bao)證用戶長時間、高頻率的(de)(de)使用要求。

    更新時間:2024-11-05型號:AP-CJ訪問量:1306
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  • AP-CJ高低溫冷熱沖擊試驗儀器
    AP-CJ高低溫冷熱沖擊試驗儀器

    高低(di)溫冷熱沖擊試(shi)驗(yan)(yan)儀器均可(ke)聯系廣東愛佩試(shi)驗(yan)(yan)設(she)備(bei)(bei)有(you)限公(gong)司生產(chan)(chan)定制,本公(gong)司工廠在國(guo)內,所(suo)有(you)設(she)備(bei)(bei)有(you)在國(guo)內生產(chan)(chan),簡稱國(guo)產(chan)(chan),但(dan)是設(she)備(bei)(bei)的(de)(de)主要配置90%以上采用品(pin)牌組裝,保持設(she)備(bei)(bei)的(de)(de)穩(wen)定性及高質量(liang),加(jia)上國(guo)內生產(chan)(chan),技(ji)術(shu)好,服務快(kuai)捷,有(you)什么售后問題可(ke)第(di)一時(shi)間安排(pai)專業技(ji)術(shu)人員上門(men)處理,所(suo)以目(mu)前的(de)(de)國(guo)產(chan)(chan)設(she)備(bei)(bei)并(bing)不比進(jin)口設(she)備(bei)(bei)口碑(bei)差。

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  • AP-CJ發熱盤冷熱沖擊測試臺
    AP-CJ發熱盤冷熱沖擊測試臺

    發熱盤冷熱沖(chong)擊(ji)測試臺(tai)與觸(chu)控(kong)式高低溫(wen)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱是指稱呼同(tong)一(yi)款設備,由于是采用觸(chu)摸屏(ping)輸入方(fang)式控(kong)制(zhi)整機操(cao)作,而(er)且是一(yi)款用戶使(shi)用操(cao)作非常方(fang)便及(ji)高檔的沖(chong)擊(ji)試驗(yan)可編程控(kong)制(zhi)器。所有很多(duo)人(ren)都喜歡在購買(mai)或者稱呼時(shi)附帶上觸(chu)控(kong)式點綴名稱。此設備屬于可靠性試驗(yan)儀(yi)器,可以模擬*溫(wen)環境及(ji)極低溫(wen)環境在短時(shi)間循環或者瞬間內(nei)轉換及(ji)交替試驗(yan)兩種不同(tong)的溫(wen)度環境下所能承受的沖(chong)擊(ji)能力(li)

    更新時間:2024-11-05型號:AP-CJ訪問量:1083
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  • AP-CJ塑膠產品冷熱沖擊試驗設備
    AP-CJ塑膠產品冷熱沖擊試驗設備

    塑膠產品冷(leng)熱沖擊試(shi)驗設(she)備主控制(zhi)(zhi)器采用(yong)(yong)進(jin)口(kou)“OYO9226S”雙回路高(gao)精度(du)液晶顯(xian)(xian)(xian)示(shi)觸摸按鍵溫(wen)度(du)控制(zhi)(zhi)器。該控制(zhi)(zhi)器采用(yong)(yong)液晶顯(xian)(xian)(xian)示(shi)觸摸屏,可顯(xian)(xian)(xian)示(shi)設(she)定參數、試(shi)驗曲線、運行時間(jian)(jian)、加熱器工(gong)作狀態,PID參數自整(zheng)定功能。控制(zhi)(zhi)程序(xu)的(de)編制(zhi)(zhi)采用(yong)(yong)人機對話方式,僅需設(she)定溫(wen)度(du),就可實現制(zhi)(zhi)冷(leng)機自動(dong)(dong)運行功能。控制(zhi)(zhi)系(xi)統具備完(wan)善的(de)檢測裝置能自動(dong)(dong)進(jin)行詳(xiang)細(xi)的(de)故障顯(xian)(xian)(xian)示(shi)。報(bao)警,配(pei)置USB通訊接口(kou)及運行軟件(jian)。設(she)定精度(du):溫(wen)度(du):0.1℃ 時間(jian)(jian):

    更新時間:2024-11-05型號:AP-CJ訪問量:1074
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  • 冷熱沖擊試驗機廠家
    冷熱沖擊試驗機廠家

    冷熱沖擊試(shi)驗(yan)機是以待(dai)測物品(pin)(pin)不動之方式(shi)來(lai)測試(shi)因高(gao)低溫(wen)急速變化而(er)對產品(pin)(pin)是否(fou)造成不良的影響。一般用于電子(zi)部品(pin)(pin)、汽(qi)車零件(jian)及高(gao)科技產品(pin)(pin)等(deng)需(xu)要嚴苛的環(huan)境條件(jian)測試(shi)及高(gao)信賴性需(xu)求的檢驗(yan)。

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