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800l高低(di)溫(wen)(wen)試(shi)驗箱(xiang)符合(he)標準(zhun): 性(xing)能指(zhi)標符合(he)GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品(pin)環境試(shi)驗設備基(ji)本參數檢定方法低(di)溫(wen)(wen)、高溫(wen)(wen)、恒定濕熱、交變濕熱試(shi)驗設備》的要求 電工電子產品(pin)基(ji)本環境試(shi)驗規程(cheng) 試(shi)驗A:低(di)溫(wen)(wen)試(shi)驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
可程(cheng)控高低(di)溫試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)檢定規(gui)程(cheng)是(shi)一款人工(gong)模擬(ni)溫濕(shi)度測試(shi)、試(shi)驗(yan)(yan)、實驗(yan)(yan)什么樣(yang)的產品(pin)在什么樣(yang)的環(huan)(huan)境下比較適應(ying)或者試(shi)驗(yan)(yan)其(qi)耐(nai)熱(re)、耐(nai)濕(shi)、耐(nai)寒(han)、耐(nai)干性(xing)能及研發,質量(liang)管理工(gong)程(cheng)之試(shi)驗(yan)(yan),讓各(ge)(ge)類工(gong)業產品(pin)接(jie)受(shou)人工(gong)模擬(ni)自然界的溫濕(shi)度環(huan)(huan)境做(zuo)各(ge)(ge)方面的嚴苛檢測試(shi)驗(yan)(yan)
高低(di)(di)(di)溫(wen)(wen)交(jiao)變機執行與滿足標準(zhun): 1. GB/T10589-1989低(di)(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)技(ji)術(shu)條件;2. GB/T10586-1989濕(shi)(shi)熱試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)技(ji)術(shu)條件;3. GB/T10592-1989高低(di)(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)技(ji)術(shu)條件;4. GB/T2423.50-1999恒定濕(shi)(shi)熱試(shi)(shi)(shi)驗(yan)Ca;5. GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;6. GB/T2423.4-2008交(jiao)變濕(shi)(shi)熱循環(huan)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)
額(e)溫槍耐低(di)溫檢測設(she)備(bei)擁(yong)有(you)高質感外(wai)觀(guan),箱體采圓弧造型,表面經霧面條紋處理,并(bing)采用(yong)平(ping)面無反作(zuo)用(yong)把手,操作(zuo)容易,安全可靠。長方形復層玻璃觀(guan)視窗,可在測試進(jin)行(xing)時或(huo)試驗中進(jin)行(xing)試驗品觀(guan)察(cha)使用(yong),視窗具防汗電熟器裝置可防止水氣凝(ning)結水滴,及(ji)高亮度PL螢光燈保(bao)持(chi)箱內(nei)照明。
醫用(yong)防護眼鏡高(gao)低(di)(di)溫試驗(yan)箱(xiang)實驗(yan)箱(xiang)符合標(biao)準: GB/T2423.1低(di)(di)溫試驗(yan)方法。 GB/T2423.2高(gao)溫試驗(yan)方法。 GB/T2423.4交變試驗(yan)方法。 GB/T10592高(gao)低(di)(di)溫試驗(yan)技(ji)術(shu)條件等國家標(biao)準。
耐高(gao)溫老(lao)化(hua)試驗室主要技(ji)術(shu)參(can)數: 溫度(du)范圍:常(chang)溫~85℃;(可調)備注:也可定制100℃或150℃的高(gao)溫。溫度(du)波動:±0.5℃;溫度(du)偏差:±2℃;(空載條件下);
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