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小型耐高低(di)溫(wen)試驗(yan)箱工(gong)(gong)作原理(li)及(ji)作用(yong)：采用(yong)加熱絲加熱，壓(ya)縮(suo)機制冷，微電(dian)腦控制等方式工(gong)(gong)作，主要(yao)用(yong)于測試、實(shi)驗(yan)和試驗(yan)確定(ding)電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)及(ji)電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)零配件或材料在進行高溫(wen)、低(di)溫(wen)、或恒定(ding)交(jiao)變試驗(yan)的溫(wen)度(du)環境(jing)變化后的參數及(ji)性(xing)能。

高(gao)低溫(wen)老化(hua)(hua)試(shi)驗箱橡膠主(zhu)要適用(yong)于航(hang)空航(hang)天、電(dian)(dian)子電(dian)(dian)工、汽車摩托車、化(hua)(hua)工冶金、質(zhi)檢計量、科研單位、高(gao)等(deng)院校、企事業單位、各(ge)種(zhong)電(dian)(dian)子元氣件(jian)(jian)等(deng)相關產(chan)品(pin)的零(ling)部件(jian)(jian)及(ji)材料(liao)在高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、恒溫(wen)環境下貯(zhu)存和使用(yong)時的適應(ying)性試(shi)驗，檢測其各(ge)性能指標，是產(chan)品(pin)模(mo)擬高(gao)低溫(wen)試(shi)驗條(tiao)件(jian)(jian)一款(kuan)模(mo)擬環境箱。

高低(di)溫試(shi)(shi)驗房是(shi)一種主要用于模擬不同(tong)環境下(xia)產品(pin)的(de)性能(neng)和(he)可靠性的(de)測(ce)試(shi)(shi)設備。其設計精良、功能(neng)完(wan)備，可以幫助(zhu)制造商在(zai)生產前對產品(pin)進行嚴格的(de)測(ce)試(shi)(shi)與驗證，從而提(ti)高產品(pin)的(de)質量和(he)競爭力(li)。

高低溫潮(chao)濕(shi)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)產(chan)品(pin)具有較寬(kuan)的溫度(du)控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB10592-89高低溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)技術條件，適(shi)用于(yu)按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chan)品(pin)環(huan)境試(shi)(shi)(shi)驗(yan) 試(shi)(shi)(shi)驗(yan)A：低溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)方法，試(shi)(shi)(shi)驗(yan)B：高溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)方法》對(dui)產(chan)品(pin)進行(xing)低溫、高溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)及恒定溫熱試(shi)(shi)(shi)驗(yan)。產(chan)品(pin)符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。

非(fei)標定做(zuo)耐高(gao)(gao)低(di)溫(wen)檢測(ce)箱(xiang)廠家(jia)用于模擬產品在(zai)氣候環境溫(wen)濕(shi)組合(he)(he)條件(jian)下（高(gao)(gao)低(di)溫(wen)儲存，高(gao)(gao)低(di)溫(wen)交(jiao)變(bian)，高(gao)(gao)溫(wen)高(gao)(gao)濕(shi)，低(di)溫(wen)低(di)濕(shi)，溫(wen)度(du)循環）檢測(ce)材(cai)料(liao)在(zai)各種環境下的(de)適應(ying)能力(li)與特性是否改變(bian)，適合(he)(he)各類(lei)科(ke)研單位，大專院校，檢測(ce)機構(gou)，電子、電器、通訊(xun)、汽車(che)配件(jian)、塑膠制品、金屬、食品、化學、建(jian)材(cai)、醫療、航(hang)天(tian)等制品檢測(ce)質量之用。

高(gao)低溫(wen)設備檢(jian)測(ce)機構技術參(can)數： 溫(wen)度笵(fan)圍(wei):0℃、-20℃、-40℃、-70℃～150℃ 濕(shi)度笵(fan)圍(wei) :20%～98%RH 升溫(wen)速度 :RT～150℃約40min

工(gong)業高(gao)低溫試(shi)驗設備用于工(gong)業產(chan)(chan)品(pin)高(gao)、低溫的(de)可靠性試(shi)驗。對(dui)電子電工(gong)、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高(gao)等院校、科研單位(wei)等相關(guan)產(chan)(chan)品(pin)的(de)零部件及材料在高(gao)、低溫（交(jiao)變）循環變化的(de)情況下，檢驗其各項(xiang)性能(neng)指標。

愛佩牌大型低(di)溫(wen)實驗(yan)(yan)房設備符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。具有較寬的溫(wen)度控制(zhi)范圍(wei)，其(qi)性能(neng)指(zhi)標均達到國家標準GB10592-89高低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)(yan)箱技術條件，適(shi)用于按GB2423.1、GB2423.2《電(dian)工電(dian)子(zi)產品(pin)環境試(shi)驗(yan)(yan)試(shi)驗(yan)(yan)A：低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)(yan)方法，試(shi)驗(yan)(yan)B：高溫(wen)試(shi)驗(yan)(yan)方法，試(shi)驗(yan)(yan)》對產品(pin)進行低(di)溫(wen)、高溫(wen)試(shi)驗(yan)(yan)及恒定溫(wen)熱試(shi)驗(yan)(yan)。