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蓄電池(chi)老(lao)化試驗(yan)恒(heng)溫箱就是(shi)可以(yi)設置到外部環境中不會(hui)出現的溫度，比如120度，或者150度，還可以(yi)制造出來(lai)180度的高溫試驗(yan)箱，可程式(shi)恒(heng)定高溫時間以(yi)及溫度，此設備主要是(shi)給企業實驗(yan)室(shi)、研發部、計量(liang)院、檢測單位、高校實驗(yan)室(shi)等(deng)做高低(di)溫可靠性試驗(yan)。

高溫(wen)恒(heng)定溫(wen)度循環試驗(yan)(yan)箱就(jiu)是(shi)可以設(she)置到(dao)外(wai)部環境中不會出現的溫(wen)度，比(bi)如120度，或者150度，還可以制造出來180度的高溫(wen)試驗(yan)(yan)箱，可程式恒(heng)定高溫(wen)時間以及溫(wen)度，此(ci)設(she)備主要是(shi)給(gei)企業實驗(yan)(yan)室、研發(fa)部、計量院(yuan)、檢測單(dan)位、高校實驗(yan)(yan)室等(deng)做(zuo)高低溫(wen)可靠性試驗(yan)(yan)。

低溫(wen)(wen)-50低溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)標準： GB10589-89 低溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)技(ji)(ji)術(shu)條件(jian)(jian)；GB10592-89 高低溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)技(ji)(ji)術(shu)條件(jian)(jian)；GB11158高溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)技(ji)(ji)術(shu)條件(jian)(jian)；GB/T10586-89 濕(shi)(shi)熱(re)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)技(ji)(ji)術(shu)條件(jian)(jian)；GB/T2423.1-2008 低溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)試(shi)驗(yan)(yan)方法(fa)(fa)；GB/T2423.2-2008 高溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)試(shi)驗(yan)(yan)方法(fa)(fa)；GB/T2423.3-2006 濕(shi)(shi)熱(re)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)試(shi)驗(yan)(yan)方法(fa)(fa)；GB/T24

高(gao)低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)房系列(lie)通(tong)常由一個(ge)密(mi)封的(de)試(shi)驗(yan)室(shi)構成(cheng)，具有(you)良好(hao)的(de)絕(jue)緣性能和穩定(ding)的(de)溫(wen)度(du)控制系統。它的(de)外殼采(cai)用優(you)質的(de)材料，以(yi)確保(bao)試(shi)驗(yan)室(shi)內外溫(wen)度(du)的(de)隔離，從(cong)而(er)防止外界溫(wen)度(du)對試(shi)驗(yan)結果(guo)的(de)干擾(rao)。試(shi)驗(yan)室(shi)內部通(tong)常配備了適當的(de)擱板(ban)、固定(ding)裝置(zhi)和傳(chuan)感器等(deng)設備，以(yi)支(zhi)持不同類型產品的(de)測(ce)試(shi)。

高低(di)溫檢(jian)測實驗(yan)機也可稱為耐(nai)冷(leng)(leng)(leng)熱(re)交變(bian)(bian)試(shi)驗(yan)箱或(huo)耐(nai)冷(leng)(leng)(leng)熱(re)交變(bian)(bian)試(shi)驗(yan)機，是(shi)一(yi)(yi)臺集(ji)冷(leng)(leng)(leng)熱(re)系統(tong)于一(yi)(yi)起的(de)設備，冷(leng)(leng)(leng)系統(tong)就是(shi)制(zhi)冷(leng)(leng)(leng)系統(tong)的(de)意(yi)思(si)，熱(re)系統(tong)就是(shi)加熱(re)系統(tong)的(de)意(yi)思(si)。同(tong)(tong)時擁有兩個系統(tong)即是(shi)可以同(tong)(tong)時做(zuo)冷(leng)(leng)(leng)熱(re)交變(bian)(bian)試(shi)驗(yan)的(de)設備,可編定多個程序交變(bian)(bian)循環或(huo)者定值運行(xing)。此類設備具有準確地模擬(ni)高溫、低(di)溫、冷(leng)(leng)(leng)熱(re)氣候等復雜(za)的(de)自(zi)然環境(jing)，用于測試(shi)和確定工(gong)業(ye)行(xing)業(ye)材料或(huo)成品及其他半產品進行(xing)恒定溫度試(shi)驗(yan)的(de)環境(jing)溫度變(bian)(bian)化后的(de)參數及性能. 是(shi)國防工(gong)業(ye)，航天工(gong)業(ye)

步入(ru)式(shi)高(gao)(gao)低溫(wen)高(gao)(gao)溫(wen)老(lao)化房(fang) 一(yi)般(ban)是(shi)大到人可以(yi)把產(chan)品(pin)推(tui)進試(shi)驗箱內部調整與擺(bai)放，由(you)于此類(lei)設備一(yi)般(ban)類(lei)似(si)房(fang)間(jian)室內般(ban)大小，所以(yi)也偶爾也被稱為老(lao)化房(fang) ，小型的則做成箱式(shi)的就叫(jiao)高(gao)(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱，常適用(yong)于通訊(xun)、光(guang)電(dian)(dian)、LED、電(dian)(dian)子(zi)等(deng)產(chan)品(pin)（如：光(guang)電(dian)(dian)產(chan)品(pin)、機(ji)算機(ji)整機(ji)或零配(pei)件(jian)、顯示器(qi)(qi)、觸摸屏、終端(duan)機(ji)、車用(yong)電(dian)(dian)子(zi)產(chan)品(pin)、主機(ji)板(ban)、電(dian)(dian)源供(gong)應器(qi)(qi)、監視器(qi)(qi)、交(jiao)換式(shi)充(chong)電(dian)(dian)器(qi)(qi)、照相機(ji)、電(dian)(dian)話機(ji)等(deng)）

芯片高低溫測試儀(yi)結(jie)構(gou)特點： 箱體采(cai)用(yong)數控(kong)機(ji)床(chuang)加工成型(xing)，造型(xing)美觀大方、新穎并采(cai)用(yong)無反作(zuo)用(yong)把手，操作(zuo)簡便。 箱體內膽(dan)采(cai)用(yong)進口(kou)高級不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制(zhi)作(zuo)而成，箱體外(wai)膽(dan)采(cai)用(yong)A3鋼板噴塑。

芯片高(gao)低(di)溫測試(shi)儀技術(shu)參數(shu)： 1、溫度范圍：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-70℃~150℃ 2、濕度范圍：20~98％ RH（請參考(kao)愛佩提(ti)供的標準(zhun)行業溫濕度分布范圍圖設定使用） 3、波動/均(jun)勻度：≤±0.5℃ /±2℃